通過衍射峰的半高寬和峰高比可以研究Ni電極材料粉末顆粒的微結(jié)構(gòu)特征，本文描述了應(yīng)用X射線衍射法測定Ni陽電極材料結(jié)構(gòu)、計算其衍射峰的半高寬和峰高比。求解峰高比時改進測定方法，采用定點測量的方法，減小了在密封式管條件下由于計數(shù)小而產(chǎn)生很大的計數(shù)統(tǒng)計誤差1/ ，使定量更準確。從而可以更好地了解Ni電極材料的電極性能，便于建立工藝條件。
提供商 |
北京普析通用儀器有限責任公司 | 下載次數(shù) |
111次 |
資料大小 |
476.4KB | 資料類型 |
PDF 文件 |
資料圖片 |
-- | 瀏覽次數(shù) |
617次 |
6
立即詢價
您提交后，專屬客服將第一時間為您服務(wù)