ARL X’TRA衍射儀是精美的粉末X-射線衍射分析系統(tǒng)：全新工藝設計的測角儀和Peltier半導體溫差制冷Si(Li)固體檢測器的結(jié)合使該儀器具有高性能價格比。

功能包括：定性和定量物相分析,Rietveld 法無標樣定量分析,結(jié)晶分析,低溫和高溫X-射線衍射

ARLX'TRAX是一種經(jīng)濟實用的高質(zhì)量粉末衍射應用的儀器

 ARLX'TRA是Thermo的粉末衍射系統(tǒng)，融合了25年XRD生產(chǎn)經(jīng)驗和的工藝設計。ARL X¢TRA具有優(yōu)良的性價比，適用于學術研究、化學、醫(yī)藥、聚合物、半導體、薄膜、金屬和礦物等方面應用。

 利用立式q:q測角儀，該儀器便利于樣品制備、樣品交換器更替和特殊樣品架的使用，為處理粉末樣品提供便利的衍射幾何學。為優(yōu)化實驗條件，測角儀采用了可移動的雙索拉狹縫和采用微米控制的連續(xù)可變的狹縫來調(diào)整入射束和衍射束的寬度。ARL X¢TRA測角儀的X-射線光學系統(tǒng)確保具有的分辨率，對小角衍射分析在2q低達0.5°處可獲得衍射峰，系統(tǒng)的模塊化配置允許使用多種的樣品臺來滿足寬范圍的應用。

 ARLX'TRA能配備Thermo*的杰出的Peltier制冷Si（Li）固體檢測器。這種探測器與閃爍檢測器相比有優(yōu)秀的分辨率，而且不需要濾片和單色器就可以除去K-Beta和X-射線熒光，因此，衍射峰強度高于其他系統(tǒng)。

 ARLX'TRA系統(tǒng)控制軟件WinXRD軟件包，是一個在WindaowÒ NT操作環(huán)境下運行的真正的32位多任務的數(shù)據(jù)采集和分析軟件包。