美國OEwaves公司的HI-Q光學測試測量系統(tǒng)提供了*自動化地測量連續(xù)激光器或激光光源的超低相位噪聲測量。這個光學測試測量系統(tǒng)能夠快速地測量激光相位噪聲，評估其線寬的半高寬度低至< 3 Hz,而無需復雜的測試架構和參考激光即可作這樣的窄線寬測量。

該系統(tǒng)在寬帶測量方面是它不要求另外的低噪聲參考激光光源。該系統(tǒng)操作簡單、方便、快速、精度高，且無需附加額外的測試設備。

美國OEwaves公司的HI-Q光學測試測量系統(tǒng)提供了*自動化地測量連續(xù)激光器或激光光源的超低相位噪聲測量。這個光學測試測量系統(tǒng)能夠快速地測量激光相位噪聲，評估其線寬的半高寬度低至< 3 Hz,而無需復雜的測試架構和參考激光即可作這樣的窄線寬測量。

該系統(tǒng)在寬帶測量方面是不要求另外的低噪聲參考激光光源。該系統(tǒng)操作簡單、方便、快速、精度高，且無需附加額外的測試設備。這的超低相位/頻率噪聲分析儀可擴展到不同的輸入波段，并用于低相對強度噪聲測量。

特點：

? 超低相位/頻率噪聲測量

? 快速實時測量

? 即刻和擴展的FWHM線寬分析

? 不需要低噪聲參考光源

? 用戶友好界面

? 簡單的基于PC的操作

? 3U x 19英寸機架系統(tǒng)

? 可定制的配置、升級和選項

可選擇的配置：

? 在630 nm  -  2200 nm范圍內(nèi)多個輸入波段

? 超低噪聲基底

? 相對強度噪聲測量

? 擴展的偏移頻率范圍可達2 GHz

? 擴展的輸入功率范圍

? 遠程操作

? 性能和頻率

? 定制范圍選擇和升級