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XRF涂層厚度測量 L系列是博曼的通用機型。該系列將更大的樣品室和更大的XY平臺相結合。對于大的鍍件，L系列是*品。大樣品臺和XY行程可實現(xiàn)大鍍件的多點測量。 封閉式樣品倉可容納12“x22“x24“（LxH）的樣品。XY平臺的行程為13“x10“。
XRF涂層厚度測量L系列產(chǎn)品概述：
L系列是博曼的通用機型。該系列將更大的樣品室和更大的XY平臺相結合。對于大的鍍件，L系列是*品。大樣品臺和XY行程可實現(xiàn)大鍍件的多點測量。 封閉式樣品倉可容納12"x22"x24"（LxH）的樣品。XY平臺的行程為13"x10"。
標準配置包括一個4位置多準直器組件，以及一個可在凹陷區(qū)域進行測量的變焦相機。 與其他型號一樣，準直器尺寸和焦距可根據(jù)不同的客戶應用進行定制。 包括可編程的XY平臺，為了滿足更大樣品測測量，XY平臺可以移除。探測器采用硅PIN半導體探測器，可升級為高性能SDD探測器。
XRF涂層厚度測量L系列
可滿足以下類型用戶的需求：
- 樣品的長寬高分別超過12"但小于24"
- 需容納多個樣品進行自動化多點測量
- 可擴展到更大尺寸的樣品，用于未來的項目
- 符合IPC-4552A
博曼（Bowman）XRF鍍層測厚儀 L系列產(chǎn)品參數(shù)：
類別 | 參數(shù) |
元素測量范圍： X射線管： 探測器： 分析層數(shù)及元素數(shù)： 濾波器/準直器： 焦距： 數(shù)字脈沖器： 計算機：
相機： 電源： 重量： 可編程XY平臺： 樣品倉尺寸： 外形尺寸： | 13號鋁元素到92號鈾元素 50 W（50kV和1mA）微聚焦射線管 190eV及以上分辨率的Si-PIN固態(tài)探測器 5層，每層可分析10種元素，成分分析至多可分析25種元素 4位置一次過濾器/4種規(guī)格準直器 可變焦 4096 多通道數(shù)字處理器，自動死時間和逃逸峰校正 英特爾, 酷睿 i5 3470 處理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 內(nèi)存, 微軟 Windows 10 專業(yè)版, 64位 1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率 150W，100-240V，頻率范圍為47Hz至63Hz 110kg 平臺尺寸：10"x 10"| 行程：10"x 10" 高度：280mm（11"），寬度：550mm（22"），深度：600mm（24"） 高度：750mm（30"），寬度：700mm（28"），深度：750mm（30"） |
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