當(dāng)前位置：儀器網(wǎng) > 產(chǎn)品中心 > 行業(yè)專用儀器>其它行業(yè)專用儀器>其它> 納米傅里葉紅外光譜儀-Nano-FTIR
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現(xiàn)代化學(xué)的一大科研難題是如何實(shí)現(xiàn)在納米尺度下對材料進(jìn)行無損化學(xué)成分鑒定?，F(xiàn)有的一些高分辨成像技術(shù)，如電鏡或掃描探針顯微鏡等，在一定程度上可以有限的解決這一問題，但是這些技術(shù)本身的化學(xué)敏感度太低，已經(jīng)無法滿足現(xiàn)代化學(xué)納米分析的要求。而另一方面，紅外光譜具有很高的化學(xué)敏感度，但是其空間分辨率卻由于受到二分之一波長的衍射極限限制，只能達(dá)到微米級別，因此也無法進(jìn)行納米級別的化學(xué)鑒定。 德國neaspec公司利用其*的散射型近場光學(xué)技術(shù)發(fā)展出來的nano-FTIR納米傅里葉紅外光譜，使得納米尺度化學(xué)鑒定和成像成為可能。這一技術(shù)綜合了原子力顯微鏡的高空間分辨率和傅里葉紅外光譜的高化學(xué)敏感度，因此可以在納米尺度下實(shí)現(xiàn)對幾乎所有材料的化學(xué)分辨。因而，現(xiàn)代化學(xué)分析的納米新時(shí)代從此開始。 neaspec公司的散射型近場技術(shù)通過干涉性探測針尖掃描樣品表面時(shí)的反向散射光，同時(shí)得到近場信號的光強(qiáng)和相位信號。當(dāng)使用寬波紅外激光照射AFM針尖時(shí)，即可獲得針尖下方10nm區(qū)域內(nèi)的紅外光譜，即nano-FTIR.
nano-FTIR光譜與標(biāo)準(zhǔn)FTIR光譜高度吻合：
在不使用任何模型矯正的條件下，nano-FTIR傅里葉紅外光譜儀獲得的近場吸收光譜所體現(xiàn)的分子指紋特征與使用傳統(tǒng)FTIR光譜儀獲得的分子指紋特征吻合度*（如下圖），這在基礎(chǔ)研究和實(shí)際應(yīng)用方面都具有重要意義，因?yàn)檠芯空呖梢詫ano-FTIR光譜與已經(jīng)廣泛建立的傳統(tǒng)FTIR光譜數(shù)據(jù)庫中的數(shù)據(jù)進(jìn)行對比，從而實(shí)現(xiàn)快速準(zhǔn)確的進(jìn)行納米尺度下的材料化學(xué)分析。對化學(xué)成分的高敏感度與超高的空間分辨率的結(jié)合，使得nano-FTIR成為納米分析的*工具。
主要技術(shù)參數(shù)配置：
- 反射式 AFM-針尖照明 - 標(biāo)準(zhǔn)光譜分辨率: 6.4/cm-1 - 保護(hù)的無背景探測技術(shù) - 基于優(yōu)化的傅里葉變換光譜儀 - 采集速率： Up to 3 spectra /s | - 高性能近場光譜顯微優(yōu)化的探測模塊 - 可升級光譜分辨率：3.2/cm-1 - 適合探測區(qū)間：可見，紅外(0.5 – 20 µm) - 包括可更換分束器基座 - 適用于同步輻射紅外光源 NEW!!! |
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