產(chǎn)品簡(jiǎn)介：光譜橢偏儀SE-Vi是一款集成式原位光譜橢偏儀，針對(duì)有機(jī)/無(wú)機(jī)鍍膜工藝研究的需要開(kāi)發(fā)的原位薄膜在線(xiàn)監(jiān)測(cè)中的定制化開(kāi)發(fā)，快速實(shí)現(xiàn)光學(xué)薄膜原位表征分析。光譜橢偏儀廣泛應(yīng)用于金屬薄膜、有機(jī)薄膜、無(wú)機(jī)薄膜的物理/化學(xué)氣相沉積，ALD沉積等光學(xué)薄膜工藝過(guò)程中實(shí)際原位在線(xiàn)監(jiān)測(cè)并實(shí)時(shí)反饋測(cè)量物性數(shù)據(jù)。