DGS-Ⅲ單道掃描ICP光譜儀的詳細(xì)介紹：
DGS-Ⅲ單道掃描ICP光譜儀的核心部分是高分辯率Czerny Turner單色儀光學(xué)系統(tǒng)。它配有3600刻線/mm或者4320刻線/mm的全息光柵，窄的入射狹縫及出射狹縫, 具有很高的分辯率和極低的雜散光，保證了系統(tǒng)在分析復(fù)雜基體樣品時(shí)，受光譜疊加的影響減到zui小。采用直接驅(qū)動(dòng)裝置傳動(dòng)光柵，保證了極快的分析速度和好的重現(xiàn)性。采用40.68MHZ RF發(fā)生器以保證高的信號(hào)背景比（S/B）和很低的檢出限。采用新技術(shù)設(shè)計(jì)了優(yōu)良的檢測(cè)系統(tǒng)，保證了分析質(zhì)量的可靠。以上這些特點(diǎn)使DGS-Ⅲ在分析中具有非常好的檢出限和任意選擇分析元素的靈活性。從而可分析各種物資材料的樣品成分, 特別在各種高純材料及高純稀土的雜質(zhì)成分分析方面更具有優(yōu)勢(shì)。該儀器在分析指標(biāo)、穩(wěn)定性、分析速度、軟件等各方面的技術(shù)指標(biāo)均達(dá)到*水平。
1 光學(xué)系統(tǒng)
1.1單色儀
采用焦矩為1米的Czerny Turner單色儀，光柵為高光強(qiáng)、高分辯率、雜散光極低的全息光柵，單色儀的設(shè)計(jì)使其對(duì)溫度和壓力的變化都具有*的穩(wěn)定性，因此這種光學(xué)系統(tǒng)具有優(yōu)異的分析性能。
1.2光柵
使用110mmX80mm大面積的3600刻線/mm的全息光柵，使單色儀的入射光為可利用的較大視角的平行光，提高了光通量，因此提高了穩(wěn)定性和信號(hào)強(qiáng)度。光柵在高分辯率的條件下也可采集到足夠的光，短的測(cè)量時(shí)間即可滿足需要，從而減少了所需測(cè)量的樣品量。由于雜散光極低，顯著提高了S/B，改善了檢出限。
1.3分辯率
光譜儀的分辯率決定了儀器分辯復(fù)雜譜線的能力。高分辨率減少了建立分析方法所需的時(shí)間，有較好的檢出限和較高的準(zhǔn)確度。DGS-Ⅲ的實(shí)際分辯率為：Fe（310.030）<0.007nm。采用3600刻線/mm光柵的光譜范圍為190nm—500nm，可以適用于大部分的光譜分析元素。
1.4光柵直接驅(qū)動(dòng)
DGS-Ⅲ型光譜儀采用直接驅(qū)動(dòng)光柵的機(jī)械傳動(dòng)方式，計(jì)算機(jī)控制下的自動(dòng)波長(zhǎng)參比保證波長(zhǎng)的機(jī)械準(zhǔn)確度總是優(yōu)于0.004nm。由于*的重現(xiàn)性,掃描速度很快,全譜范圍掃描只需7秒.光柵轉(zhuǎn)動(dòng)的高速度使得儀器在1分鐘內(nèi)可以分析15個(gè)元素,這意味著節(jié)省氬氣和樣品,分析速度快, 穩(wěn)定性較高。
2. 激發(fā)光源及進(jìn)樣系統(tǒng)
2.1激發(fā)光源
DGS-Ⅲ型光譜儀的激發(fā)光源為電子管震蕩電路，具有功率自動(dòng)調(diào)節(jié)和相位自動(dòng)匹配功能,其功率輸出從600W-1200W連續(xù)可調(diào),等離子的微小波動(dòng)可以由自動(dòng)調(diào)節(jié)系統(tǒng)補(bǔ)償. 40.68MHZ的等離子發(fā)生器符合國(guó)家無線電對(duì)工業(yè)頻率的要求，它安裝在單道掃描儀機(jī)箱內(nèi)部, 構(gòu)成一整體。
2.2進(jìn)樣系統(tǒng)
進(jìn)樣系統(tǒng)采用目前上*的漩流霧室系統(tǒng)，他具有穩(wěn)定性好，清洗速度快等優(yōu)點(diǎn)。使分析速度更快，數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。該儀器測(cè)量的短期穩(wěn)定性RSD<1.5%，二小時(shí)以上的*穩(wěn)定性RSD<2%。
3．電子檢測(cè)系統(tǒng)和計(jì)算機(jī)
DGS-Ⅲ和計(jì)算機(jī)之間的接口是一個(gè)智能微處理系統(tǒng)。它負(fù)責(zé)和計(jì)算機(jī)之間的數(shù)據(jù)通訊、采集數(shù)據(jù)、控制單色儀驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)的精確運(yùn)動(dòng)，及提供光電倍增管一組高精度負(fù)高壓穩(wěn)壓電源。
3.1電子檢測(cè)系統(tǒng)
l 線性動(dòng)態(tài)范圍zui高可達(dá)1×108,足以滿足ICP工作曲線校正的需要;
l zui小分辯率為2.5×10-10;
l PMT電流測(cè)量范圍為：10-12-10-4安培;
l 高品質(zhì)的電子系統(tǒng)有助降低儀器的分析檢出限和提高精密度。
ICP稀土元素檢測(cè)光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域
稀土行業(yè)：稀土元素，分辨率高、檢出限低；
硅工業(yè)：磁性材料加工工業(yè)；
冶金工業(yè)：可分析對(duì)金屬材料質(zhì)量的影響很大AS、Bi、Pb、Sb、Sn等雜質(zhì)元素；
地質(zhì)、礦石分析：巖石樣品中鈣、鎂、鈉、鐵、銅、錳、鋅、鈷、鎳、金、銀等元素的測(cè)定。
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