ELEMENT 等離子發(fā)射光譜儀，在痕量元素定量分析方面，ICP-MS 嚴(yán)重的限制是對元素信號的多原子干擾。高質(zhì)量數(shù)分辨率是消除這些干擾的金標(biāo)準(zhǔn)，可在痕量水平上準(zhǔn)確可靠地進(jìn)行多元素定量分析，樣品制備步驟極為簡便。

ELEMENT 等離子發(fā)射光譜儀

ELEMENT 系列 ICP-MS

您可以從兩種高性能，雙聚焦扇形磁場 Thermo Scientific™ ELEMENT™ 系列 ICP-MS 儀器中選擇，這些儀器針對易用性、穩(wěn)定性和分析效率進(jìn)行了優(yōu)化。ELEMENT 2™ ICP-MS 提供強大的技術(shù)來解決特定問題，同時具備優(yōu)異的靈敏度和信噪比。Thermo Scientific ELEMENT XR™ ICP-MS 結(jié)合法拉第檢測器與雙模式 SEM 檢測器將 ELEMENT 2 ICP-MS 的線性動態(tài)范圍擴(kuò)展了三個數(shù)量級。

描述

在痕量元素定量分析方面，ICP-MS 嚴(yán)重的限制是對元素信號的多原子干擾。高質(zhì)量數(shù)分辨率是消除這些干擾的金標(biāo)準(zhǔn)，可在痕量水平上準(zhǔn)確可靠地進(jìn)行多元素定量分析，樣品制備步驟極為簡便。

多元素分析

多元素檢測器可處理瞬變信號，包括 HPLC、GC 和激光消融。

元素周期表中的無干擾測量涵蓋基質(zhì)組分（mg?L-1）和超痕量元素（低于 1 pg?L-1）。

較高靈敏度 ICP-MS（低分辨率時）。

靈活性和可用性

高質(zhì)量數(shù)分辨率可獲取譜干擾同位素，生成清晰的元素譜

對無干擾或受干擾同位素進(jìn)行高精度同位素比分析。

熱等離子體和冷等離子體狀態(tài)。

ELEMENT XR ICP-MS

寬線性動態(tài)檢測范圍對于 ICP-MS 來說至關(guān)重要，因為其允許通過單次運行分析較寬的濃度范圍。

集成式法拉第檢測器的特性：

采樣時間低至 1 ms。

測量高強度峰后無需衰減時間

SEM 和法拉第之間自動切換，延遲時間為 <1 ms。

不同檢測器模式之間的線性交叉范圍較寬（>2 個數(shù)量級），允許準(zhǔn)確進(jìn)行自動交叉校正。

動態(tài)范圍為 0.2 cps（SEM）到 >1 x 1012 cps（法拉第）。

標(biāo)簽：ELEMENT 等離子發(fā)射光譜儀