Exquis T4直讀光譜儀，采用了特殊的光室結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，光室密封氬氣循環(huán)系統(tǒng)，CMOS全譜接收技術(shù)，全元素分析范圍等特點(diǎn)。杰博公司融合了多項(xiàng)自主創(chuàng)新技術(shù),精工于內(nèi)、大道至簡,針對(duì)不同客戶的需求，而推出的這款充氬式全譜直讀火花光譜儀，可滿足Fe、Al、Cu、等多種金屬及其合金的材質(zhì)分析要求。
鑄造 冶金 機(jī)械 爐前 金屬加工 金屬材料質(zhì)量鑒定
全譜譜線圖
CMOS全譜分析技術(shù)
豐富的譜線信息，分析靈敏線更多，保證分析的準(zhǔn)確度；
基于全譜測量的數(shù)據(jù)，能夠正確區(qū)分背景和譜線，有效提高測量精度；
智能選擇合適的靈敏線，通過多譜線結(jié)合技術(shù)，實(shí)現(xiàn)低中高含量段的檢測需求；
基于全譜測量數(shù)據(jù)的多峰擬合技術(shù)，有效消除譜線干擾，實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)測量。
CMOS線陣傳感器
實(shí)時(shí)智能漂移校正技術(shù)
在分析過程中，適時(shí)進(jìn)行光譜漂移校正，增強(qiáng)儀器穩(wěn)定性；
減少標(biāo)準(zhǔn)化校正次數(shù)，延長校正周期；
自動(dòng)完成儀器校正，操作更加簡便。
譜線漂移校正
*的CMOS檢測技術(shù)優(yōu)于CCD
CMOS相比CCD具有更高的靈敏度和響應(yīng)速度；
CMOS相比CCD具有更好的線性度；
CMOS相比CCD具有更高的紫外光敏感度，在深紫外區(qū)如碳、硫、磷、砷、氮等短波元素的檢測更準(zhǔn)確。
紫外元素強(qiáng)度對(duì)比
CMOS全譜接收技術(shù)；
光室密封氬氣循環(huán)系統(tǒng)；
人性化一鍵激發(fā)，一鍵緊急停止；
一體化光室光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)；
可編程脈沖全數(shù)字光源技術(shù)；
可分析Fe、Al、Cu、等多種基體；
波長范圍165-530mm,可滿足更多元素的分析要求。
