產品簡介：金相測量顯微鏡系列HK-JTM-H凝聚了哈科在金相顯微鏡領域Z*的科研成果與Z*的機械設計工藝，是一款具有品牌性能的懸臂金相顯微鏡。世界*的軟硬件配置，目前國內精度Z高、性能Z穩(wěn)定、功能Z強大。

儀器特點

*品牌金相光學觀察系統(tǒng)，觀察1寸-18.5寸液晶面板等產品,10X-1000X光學放大倍率，可實現(xiàn)明暗視野的觀察以及導電粒子微分干涉觀察。系統(tǒng)使用人體工學設計理念設計，符合友好化測量、采用主動式減震系統(tǒng)，花崗石本體結構，能剛好的克服環(huán)境震動問題。人性化計算機測量模式，有效提高觀察定位效率。專為使用者設計*機型，操作更便利、測量更迅速。

應用領域

該儀器適用于LED、硅晶片、精密零件、導電粒子彩色濾光片、手機屏幕、FPD模組半導體晶片、FPC-PCB、IC封裝光盤CD、圖像傳感器、CCD、CMOS、PDA光源、薄膜等金相觀察及精確測量行業(yè)。

規(guī)格參數(shù)

1.儀器規(guī)格系列：HK-JTM-H

2.測量范圍：50mm-500mm

3.解析讀數(shù)：0.1 um

4.示值誤差：3um+L/200 L:單位mm

5.符合人機工程學設計準則方便操作測量

6.工作臺一鍵式氣動單手快速移動操作

7. 可實現(xiàn)Z軸自動對焦

8.具有偏光和DIC檢測功能

9.采用被動式減震裝置，提高整機精度穩(wěn)定性

10.自主開發(fā)QMS3D-M軟件，高清晰進口1/2"彩色攝像機

11.可通過激光指示器尋找被測工件的具體位置，可適應復雜工件的測量

12.可實現(xiàn)高度輔助測量

13. Z軸光柵尺分辨力為0.1μm

14.同軸光/底光測量

15.可搭配白光納米檢測模塊測量納米級厚度