SS445系統(tǒng)是專門為大屏幕投影顯示測量而設(shè)計(jì)一款產(chǎn)品，適用于所有投影技術(shù)，如DLP、LCD、LCOS、影院屏幕，以及后屏投影儀、仿真器等。SS445采用計(jì)算機(jī)控制的Pan & Tilt定位系統(tǒng)，從而移動到所需的測試點(diǎn)，配置的140萬像素CCD相機(jī)，具有自動對焦功能，可以測量MTF、亮度、均勻度、伽馬等，而配置的分光光譜輻射計(jì)可以用于亮度和色度的測量。測量時，一般放置在三腳架上或投影屏幕前的桌子上，從觀察者的角度進(jìn)行測量，從而更好地表征用戶體驗(yàn)。

激光投影光色性能分析儀-激光顯示光學(xué)測試系統(tǒng)-LCOS激光投影分析系統(tǒng)-SS445產(chǎn)品描述：

激光投影光色性能分析儀-激光顯示光學(xué)測試系統(tǒng)-LCOS激光投影分析系統(tǒng)-SS445 是Microvison 專門為大屏幕投影顯示測量而設(shè)計(jì)一款產(chǎn)品，適用于所有投影技術(shù)，如DLP、LCD、LCOS、影院屏幕，以及后屏投影儀、仿真器等。SS445采用計(jì)算機(jī)控制的Pan & Tilt定位系統(tǒng)，從而移動到所需的測試點(diǎn)，配置的140萬像素CCD相機(jī)，具有自動對焦功能，可以測量MTF、亮度、均勻度、伽馬等，而配置的分光光譜輻射計(jì)可以用于亮度和色度的測量。測量時，一般放置在三腳架上或投影屏幕前的桌子上，從觀察者的角度進(jìn)行測量，從而更好地表征用戶體驗(yàn)。

工作原理：

Microvision SS445是專門為大屏幕顯示器設(shè)計(jì)的顯示測量系統(tǒng)。這包括采用任何現(xiàn)有投影引擎技術(shù)的，直至劇院大小的投影顯示器。該系統(tǒng)使用電動平移和傾斜機(jī)構(gòu)移動到所需的測試位置。該系統(tǒng)可以配置有1.4MP CCD相機(jī)和/或衍射光柵光譜儀。在操作過程中，系統(tǒng)位于待測顯示器的前面。圖形生成器或Microvision的MVRemote用于自動顯示測試圖形，或者如有需要，客戶的系統(tǒng)可以生成圖像。SS445旨在從觀察者的角度對顯示器進(jìn)行測量，從而更好地表現(xiàn)出實(shí)際看到的顯示器性能。可以快速測量幾個觀察者位置，從而*定義顯示。在操作員輸入所需的測試位置（X＆Y或像素坐標(biāo)）的情況下，測試可以*自動化，并且系統(tǒng)將在這些位置自動查找并運(yùn)行選定的測試。

激光投影光色性能分析儀-激光顯示光學(xué)測試系統(tǒng)-LCOS激光投影分析系統(tǒng)-SS445技術(shù)參數(shù)：

CCD相機(jī)

• 圖像傳感器：1392×1040 像素
• 數(shù)字視頻：12-位
• 元件尺寸：6.45 μm/像素
• 同步性：同步捕獲
• 濾鏡：適光性 50%, 20%, 10% & 1% ND
• 標(biāo)準(zhǔn)鏡頭：25mm C mount, f1.6 – f16
• 視場：20mm@1m,可調(diào)節(jié)
• 工作距離范圍：0.5~3.5 m
• 亮度精度：± 4% @ 2856K Ill.A
• 亮度范圍：0.05 ~ 106 cd/m2 （含ND濾鏡）
• 測量時間：對于多數(shù)測量<1 sec

Spectrometer + Goniometer 光譜輻射計(jì)+測角儀

• 測角儀傾斜角：0~85°
• 測角儀方位角：0~360°
• 波長范圍：380 ~ 780nm (1000nm可選)
• 亮度范圍：0.01 ~ 500K cd/m²
• 亮度精度：±3% @ 2856K Ill.A
• 亮度重復(fù)率：超過30分鐘RSD < 0.5%,0.01 cd/m²靈敏度@ 3% RSD
• 色彩準(zhǔn)確度：± 0.002 @ 2856K Ill.A
• 色彩重復(fù)率：± 0.0005 @ 2856K Ill.A
• 溫度管理：電腦自動控制
• 光學(xué)器件：12mm 準(zhǔn)直
• 視場角：1.5°
• 數(shù)字分辨率：16 bit A/D
• 積分時間：16.7 ~ 5000 msec (sync@60hz)
• 光學(xué)分辨率：3.8nm半高寬 @ 100μm狹縫
• 校準(zhǔn)：NIST可追溯
• 操作溫度：5~ 30℃

Pan & Tilt 位移臺

• 分辨率：0.0032°
• 載荷量：9 lbs

升級選項(xiàng)：

• 精準(zhǔn)位移臺（搭配位移臺，可精確位移從而實(shí)現(xiàn)自動測試）
• 提升測量范圍（適用ND濾光片，提高感光器件的測試范圍）

測試案例: