華測(cè)-絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng)配之以高溫高濕試驗(yàn)箱聯(lián)動(dòng)，可連續(xù)監(jiān)測(cè)，高效簡(jiǎn)便評(píng)估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問(wèn)題。適用標(biāo)準(zhǔn)：JPCA-ET04、IPC-TM-6502.6.3F、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A、IPC-TM-650_2.6.3.6。

面對(duì)電子產(chǎn)品越來(lái)越小型輕量及高密度封裝，因結(jié)露吸濕等因素造成的絕緣bu良現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象日益突出，華測(cè)-絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng)配之以高溫高濕試驗(yàn)箱聯(lián)動(dòng)，可連續(xù)監(jiān)測(cè)，高效簡(jiǎn)便評(píng)估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問(wèn)題。適用標(biāo)準(zhǔn)：JPCA-ET04、IPC-TM-6502.6.3F、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A、IPC-TM-650_2.6.3.6。

絕緣電阻的測(cè)試要求

電線電纜絕緣電阻測(cè)試儀的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)及其當(dāng)下使用安標(biāo)的PC40B型絕緣電阻測(cè)試設(shè)備儀器的使用操作

測(cè)試步驟：

一、從整盤(pán)線纜中截取樣品線10m（不小于10m，測(cè)量誤差應(yīng)不超過(guò)1%），然后打彎兩端剝開(kāi)100mm放在水浴中，留在水外面的兩端長(zhǎng)度應(yīng)不小于250mm。

二、接上電源，打開(kāi)設(shè)備。接上設(shè)備的兩根測(cè)試線，一根為紅色的高壓端接線纜線芯的導(dǎo)體上作為測(cè)試的一極，另一根黑色的低端測(cè)試線接上一個(gè)導(dǎo)體放在水中作為測(cè)試的另一極。

三、根據(jù)試驗(yàn)要求調(diào)節(jié)電壓檔旋鈕選擇需要的電壓。然后開(kāi)始調(diào)節(jié)電阻檔旋鈕，在調(diào)節(jié)的過(guò)程中一遍調(diào)節(jié)一邊注意數(shù)碼管顯示的數(shù)值直到數(shù)值發(fā)生變化（注意是*次變化就停止）停止調(diào)節(jié)電阻檔旋鈕，此時(shí)調(diào)節(jié)定時(shí)器為60s，然后啟動(dòng)定時(shí)器并把測(cè)試旋鈕調(diào)到測(cè)試位置。此時(shí)就開(kāi)始測(cè)試了，定時(shí)60s結(jié)束后儀器會(huì)自動(dòng)結(jié)束測(cè)試，此時(shí)數(shù)碼管顯示的數(shù)值乘以電阻檔的調(diào)節(jié)旋鈕對(duì)應(yīng)的數(shù)值就是所取樣品線的絕緣電阻值。

四、測(cè)試完畢后，應(yīng)把測(cè)試旋鈕調(diào)到放電狀態(tài)，等1min中后取下樣品和測(cè)試線。

五、完成測(cè)試。

華測(cè)-絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng)