百倍超快多束自動電子顯微鏡， 下一代電子顯微成像系統

delmic推出的FAST-EM是一款超快的自動多束電子顯微鏡，旨在使復雜且大型的顯微觀測項目變得簡單高效。FAST-EM具有自動數據采集功能，因此這種高通量系統非常適合對大型或多個樣本進行成像以進行定量分析。系統提供強大的顯微成像能力，同時極大地簡化工作流程，使用戶可以將工作重點從顯微鏡操作轉移到真正高價值的數據分析上。

FAST-EM, 對于大規(guī)模3D結構解析以及批量2D成像非常必要，可用于探索:

• 細胞結構
• 神經元回路網絡
• 生命科學的各種生物材料的分析
• 作為通用工具， 還可以顯著加快日常其他常規(guī)電子顯微成像工作的速度

成像更快

64束并行電子束加超短駐留時間，獲得超快數據采集速度

專注于數據分析

無需用戶監(jiān)管，系統自動收數據，讓用戶專注于數據分析本身

實現持續(xù)高通量

兼顧超微細節(jié)和大視野

獲取納米級超微結構，同時收獲樣品大尺度成像。