短期不穩(wěn)定性：±1%（開(kāi)機(jī)30min后）
疲勞特性：衰減量<2%
零值誤差：滿量程的±1%
響應(yīng)時(shí)間：<1秒
使用環(huán)境：溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH
尺寸和重量：160mm×78mm×43mm；0.2kg

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
紫外輻照計(jì)執(zhí)行企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)Q/HDSDY0003－2014。
紫外輻照計(jì)采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計(jì)，探測(cè)器經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
光譜及角度特性經(jīng)嚴(yán)格校正
數(shù)字液晶顯示，帶背光
手動(dòng)/自動(dòng)量程切換
數(shù)字輸出接口（USB,冗余供電）
低電量提醒
自動(dòng)延時(shí)關(guān)機(jī)
有數(shù)字保持
輕觸按鍵操作，蜂鳴提示
技術(shù)參數(shù)：
波長(zhǎng)范圍λ1，峰值波長(zhǎng)λp：（320～400）nm，λP＝365nm 用戶二選一
波長(zhǎng)范圍λ2，峰值波長(zhǎng)λp：（375～475）nm，λP＝420nm
輻照度測(cè)量范圍：(0.1～199.9×103) μW/cm2
紫外帶外區(qū)雜光：0.02%  
相對(duì)示值誤差：±8％（相對(duì)于NIM標(biāo)準(zhǔn)）
角度響應(yīng)特性：±5% （α≤10°）
線性誤差：±1%  
換檔誤差：±1%  
短期不穩(wěn)定性：±1%（開(kāi)機(jī)30min后）
疲勞特性：衰減量<2%
零值誤差：滿量程的±1%
響應(yīng)時(shí)間：<1秒  
使用環(huán)境：溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH
尺寸和重量：160mm×78mm×43mm；0.2kg
電    源：6F22型9V積層電池（非充電電池） 
整機(jī)功耗：＜0.1VA
標(biāo)準(zhǔn)配置：
讀數(shù)顯示單元1個(gè)
探頭2個(gè)（365，420各一只）
探頭蓋2個(gè) 
數(shù)據(jù)線1根
說(shuō)明書(shū)1 份
合格證/保修單1份
9V積層電池1個(gè)
儀器包裝箱1個(gè)