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熒光光譜儀XRF樣品膜 TF-412 Kapton膜
適用于各種品牌X熒光光譜儀XRF：
日本島津shimadzu、牛津儀器Oxford、斯派克Spectro、布魯克Bruker、日本精工SII、日本電子JEOL、日本理學Rigaku、日本堀場Horiba、熱電Thermo、帕納科Panalytical、尼通Niton、伊諾斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley
一、美國Premier XRF樣品膜：
美國Premier Lab Supply公司專注于X射線光譜分析XRF的樣品制備領域，以高質量和全面的X射線的樣品制備產(chǎn)品線享譽。
美國Premier X-ray樣品膜(X-ray Film）以其極低的（幾乎不含）雜質和厚度均勻而嚴格生產(chǎn)，好的柔韌性和抗化學腐蝕性，保證檢測結果的可靠性和重現(xiàn)性，被廣泛應用于XRF樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。
X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測，適用于RoHS&WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。
二、Premier 樣品膜特點：
有卷狀和片狀，多種規(guī)格、尺寸、數(shù)量可供選擇；
柔韌性強、方便、耐用；
X-ray射線穿透性，適合各類XRF光譜儀；
抗化學腐蝕性能，不溶于有機溶劑，不污染待測樣品；
（幾乎不含）痕量雜質，特別適合于輕質元素的*檢測。
三、適用于各種品牌X熒光光譜儀XRF：
日本島津shimadzu、牛津儀器Oxford、斯派克Spectro、布魯克Bruker、日本精工SII、日本電子JEOL、日本理學Rigaku、日本堀場Horiba、熱電Thermo、帕納科Panalytical、尼通Niton、伊諾斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。
四、XRF樣品膜目錄：
美國Premier X-ray樣品膜種類：
（1）、Hostaphan膜；
（2）、Kapton膜：聚酰亞胺膜，卡普頓膜；
（3）、Mylar膜：聚酯薄膜，邁拉膜，麥拉膜；
（4）、Polypropylene膜：聚丙烯膜。
CAT. NO 薄膜材料 厚度 長度 數(shù)量 描述
TF-412 Kapton膜 12.7μ(0.50mil) 76mm x 15.2m 1卷/盒 Kapton®Roll連續(xù)卷軸
TF-412-3 Kapton膜 12.7μ(0.50mil) 76mm x 91.4m 1卷/盒 Kapton®Roll連續(xù)卷軸
TF-475-3 Kapton膜 7.5μ(0.33mil) 76mm x 91.4m 1卷/盒 Kapton®Roll連續(xù)卷軸
TF-475 Kapton膜 7.5μ(0.33mil) 76mm x 15.2m 1卷/盒 Kapton®Roll連續(xù)卷軸
TF-425 Kapton膜 25.4μ(1.15mil) 7.6cm x 15.2m 1卷/盒 Kapton®Roll連續(xù)卷軸
TF-425-345 Kapton膜 25.4μ(1.15mil) 76mm x 76mm 500片/盒 Kapton®Pre-Cut Sheets方片
TF-475-345 Kapton膜 7.5μ(0.33mil) 76mm x 76mm 500片/盒 Kapton®Pre-Cut Sheets方片
TF-412-345 Kapton膜 12.7μ(0.50mil) 76mm x 76mm 500片/盒 Kapton®Pre-Cut Sheets方片
e-Cut Circles圓片
TF-135-30 Mylar邁拉膜 3.5μ(0.14mil) 直徑76mm 100片/盒 Mylar®Pre-Cut Circles圓片
熒光光譜儀XRF樣品膜 TF-412 Kapton膜
熒光光譜儀XRF樣品膜 TF-412 Kapton膜
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