上海物理光學(xué)光電輪廓儀WGL ： 黃

產(chǎn)品介紹:

儀器由倒置式改為正置式，更符合人們的操作習(xí)慣；

應(yīng)用CMOS代替CCD，省去圖象卡并提高了質(zhì)量；

用低壓電源代替高壓電源，節(jié)省了儀器成本；

用國產(chǎn)的代替德國進(jìn)口壓電陶瓷，解決了關(guān)鍵部件的進(jìn)口難題；

增加了自動(dòng)步距和亮度校正程序，同時(shí)增加了局部放大三維立體圖功能；

詳細(xì)參數(shù):

• 表面微觀不平深度測量范圍：130?1nm
• 測量的重復(fù)性：sRa≤0.5nm
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• 測量精度：8nm
• 物鏡倍率：40X
• 數(shù)值孔徑：0.65
• 儀器視場 目視：f0.25mm
• 攝象：0.13X0.13mm
• 儀器放大倍數(shù) 目視：500X
• 攝象（計(jì)算機(jī)屏幕觀察）：2500X
• 接收器測量列陣：1000X1000
• 象素尺寸：5.2X5.2nm
   
• 上海需誠儀器設(shè)備公司
  ：    黃