一、儀器特點：
1.泰勒-霍普森非接觸式輪廓儀CCI MP是一種高級的測量干涉儀（非接觸式3D輪廓儀）。 它采用享有的新型關(guān)聯(lián)算法，來查找由我們的精密光學(xué)掃描裝置產(chǎn)生的干涉圖的相干峰和相位。
2.CCI MP對于很多需要進行高精度3D輪廓分析的應(yīng)用非常有用。 轉(zhuǎn)臺上可以同步裝配各種各樣的標(biāo)的物，因而可測量多種類型的表面。 全自動的工作臺和自動測量程序進一步增強了測量的靈活性。
3.泰勒-霍普森非接觸式輪廓儀CCI MP具有功能多、用途廣的優(yōu)點。 反射率為0.3%至*的拋光表面、粗糙表面、曲面、平面或臺階面，都能使用一種算法進行測量，不需要為不同的表面改變模式，也不用擔(dān)心會選擇錯誤的 模式。 可測量的材料類型包括： 玻璃、液體墨水、光刻膠、金屬、聚合物和糊劑。
二、儀器技術(shù)參數(shù)：
1.1048 x 1048像素陣列，視場廣，高分辨率
2.經(jīng)過改良的新型X、Y、Z拼接，量程多達100毫米
3.RMS重復(fù)精度<0.2埃，階躍高度重復(fù)精度<0.1%
4.全量程埃級分辨率
5.多語言版本的Windows 7，64位軟件
三、CCI光學(xué)裝置：
無論對分析速度的要求有多高，創(chuàng)新的CCI光學(xué)裝置非接觸式光學(xué)輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結(jié)果。 高分辨率相機與1/10埃垂直分辨率相結(jié)合，無論是測量非常粗糙的表面，還是測量極其光滑的表面，都能獲得令人不可思議的詳細分析。
CCI光學(xué)裝置與光學(xué)研究人員和科學(xué)家的專業(yè)知識保持與時俱進，能滿足光學(xué)領(lǐng)域的嚴(yán)苛測量要求。 CCI光學(xué)裝置將強大的尺寸及粗糙度分析軟件與的工程設(shè)計融于一體，是一種非常適合用于粗糙度測量的檢驗工具。 CCI*的薄膜厚度測量功能，進一步完善了為光學(xué)工業(yè)而設(shè)計的出色計量包裝 。
1.2048 x 2048像素陣列，視場廣，高分辨率
2.全量程0.1埃的分辨率
3.輕松測量反射率為0.3% - *的各種表面
4.RMS重復(fù)精度<0.2埃，階躍高度重復(fù)精度<0.1%
5.多語言版本的64位控制和分析軟件
