N4156A高性能測量解決方案提供快速精確的插入損耗(IL)與偏振相關(guān)損耗(PDL)測量，設(shè)置簡便，能在研發(fā)與制造環(huán)境中很好地提供波長相關(guān)光器件的特性描述。

N4156A 高性能解決方案用于插入損耗與偏振相關(guān)損耗的測量 佳捷倫儀器

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深圳佳捷倫電子儀器有限公司

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N4156A高性能測量解決方案提供快速精確的插入損耗(IL)與偏振相關(guān)損耗(PDL)測量，設(shè)置簡便，能在研發(fā)與制造環(huán)境中很好地提供波長相關(guān)光器件的特性描述。

將測試成本降至、把吞吐量增至

該系統(tǒng)設(shè)置簡便，特為多路轉(zhuǎn)換器/信號分離器或濾光器等關(guān)鍵DWDM無源器件的啟動制造商設(shè)計。在研制和最后測試中，此類器件的制造商需要高性能的測量解決方案，從而限度地提高吞吐量與產(chǎn)量，降低成本。

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