雷尼紹是一家跨國公司，擁有遍布的科學家和工程師網(wǎng)絡，可隨時為您提供 產(chǎn)品、技術(shù)和應用方面的專業(yè)支持。

★★★，值得信賴 

inVia由一臺研究級顯微鏡和一臺高性能拉曼光譜儀耦合而成。它操作簡單但性能出眾 — 高信號傳輸效率與高 光譜分辨率和穩(wěn)定性相結(jié)合 — 即使應用于挑戰(zhàn)性的測量，也能給出可靠的分析結(jié)果。 inVia高效的光學設計可產(chǎn)生高質(zhì)量的拉曼數(shù)據(jù)，即使分析材料的微痕量也不例外。如果您希望輕松可靠地獲得 信息豐富且細節(jié)化的化學圖像和關(guān)于離散點的高度特定的數(shù)據(jù)，那么inVia系統(tǒng)是您的理想選擇。 

★★★的靈活性和可升級性

inVia極其靈活，可升級、修改和定制，不影響性能?？膳溆酶郊?、激光器、光纖探頭或?qū)⒗c其他技術(shù)聯(lián) 用；無論您選擇的是哪種inVia配置，您都將擁有一臺市場上靈活性和靈敏度的拉曼系統(tǒng)。如果我們的標準產(chǎn)品 不能準確貼合您的需求，我們的“非標準產(chǎn)品團隊”可以開發(fā)定制解決方案，以滿足您的要求。 

★★★、性能可靠、使用壽命長 

inVia共焦顯微拉曼光譜儀是運用雷尼紹在精密機械制造和創(chuàng)新工程方面的豐富經(jīng)驗設計而成的。經(jīng)過20多年的 開發(fā)和優(yōu)化，inVia憑借其優(yōu)異的品質(zhì)和的性能，已成為市場上最可信賴的拉曼儀器之一。選擇雷尼紹作為您的 拉曼合作伙伴是一項明智的投資，您的inVia將“經(jīng)久不衰”。 作為專業(yè)供應商，雷尼紹將為您的拉曼系統(tǒng)提供終身支持與服務；儀器診斷、維修和調(diào)節(jié)可以遠程實現(xiàn)或者由 我們服務團隊的人員現(xiàn)場執(zhí)行。 

沒有其他顯微拉曼光譜儀制造商能夠在單一系統(tǒng)中提供同樣水平的靈活性和靈敏度。

• 優(yōu)異性能

  inVia性能出眾，無論觀察何種樣品，它均可在最短的時間內(nèi)給出 質(zhì)的數(shù)據(jù)。 

• 靈敏 

  即使最弱的拉曼散射信號也能觀察到并獲得薄膜與單層（材料）的光 譜。 

• 功能強大 

  使用inVia進行拉曼和光致發(fā)光兩種測量，以獲取材料在電子和振動結(jié) 構(gòu)方面的信息，或與其他分析技術(shù)聯(lián)用獲得更有效的綜合解決方案。 

• 自動 

  inVia全自動化功能可為您操縱激光波長、濾光片和光柵的變化。 inVia還可保持聚焦狀態(tài)、執(zhí)行系統(tǒng)準直和校準，這樣您就可以專注于 獲取實驗結(jié)果，而不必在調(diào)整拉曼系統(tǒng)上耗費精力。 

• 靈活

  inVia是可配置和升級的，極為靈活。無論是現(xiàn)在還是將來，您都 可以在不同的實驗條件下分析泛的樣品種類。 

• 可重復的結(jié)果 

  依靠inVia，產(chǎn)生您可以信賴的結(jié)果。有了inVia出眾的性能，您可以 相信：不管是多么具有挑戰(zhàn)性的實驗，它每次都能給出可重復的結(jié)果。 

• 易于使用

  inVia的自動化功能和（限制環(huán)境光的）可選樣品遮光罩極大提高了操 作效率，即使是在有多個使用者的繁忙的實驗室內(nèi)。 

• 全套成像技術(shù) 

  inVia擁有一套綜合的成像和整體成像技術(shù)?？捎眠@些技術(shù)來生成信息 豐富且細節(jié)化的2D面積和3D體積拉曼圖像。 

• 分析不規(guī)則樣品 

  inVia Qontor的實時自動聚焦追蹤技術(shù)能夠分析凸凹不平、彎曲或粗 糙的樣品表面，在白光視頻觀察和拉曼采集模式下樣品均能保持聚焦狀態(tài)。

• 高光學效率 ：快速且靈敏的分析。雷尼紹工程師運用他們在精密機 械制造和創(chuàng)新設計方面的豐富經(jīng)驗， 將inVia打造成一臺的拉曼儀 器。他們選擇一種同軸消像散光譜儀， 該光譜儀具有高光學效率、優(yōu)異的雜 散光去除能力和的靈敏度。 有了inVia，您可以研究非常微弱的拉 曼信號，甚至可以快速分析材料的微 痕量。

• 高光譜分辨率 ：分析各種樣品 。配置inVia來分辨較窄的光譜特 征結(jié)構(gòu)，這樣您就可以在互相靠近的 拉曼譜帶之間進行區(qū)分，并辨別非常 相似的材料，比如復雜的混合物。

• 高光譜穩(wěn)定性 ：獲得一致、可靠的數(shù)據(jù) 。inVia配有堅固、輕巧的底板，以 及精密的動態(tài)底座，可確保 的儀器穩(wěn)定性，使您能夠監(jiān)測拉曼譜 帶位置的微小位移。
  

• 多種激光和光譜范圍配置 ：性能絲毫不受影響 。inVia的工作范圍可擴展為從深 紫外到遠紅外。選擇的激光、 探測器、濾光片和光柵組合，以在 盡可能短的時間內(nèi)獲得質(zhì)的拉 曼數(shù)據(jù)。

• 無人為干預的寬范圍光譜 ：拉曼和光致發(fā)光測量 。使用雷尼紹的SynchroScan™ 連續(xù)掃描采集光譜技術(shù)，實現(xiàn)光譜 覆蓋范圍的擴展。這樣就能夠?qū)?越很寬光譜范圍的光進行采集， 無需人為干預且不影響分辨率。例 如，inVia能夠在橫跨整個可見/近紅 外區(qū)間上，以一次性的連續(xù)采譜方 式得到一張高分辨光譜。

• 低波數(shù)性能 ：靠近激光線進行分析。 inVia支持多種瑞利濾光片，包 括那些您可以用來高效并輕松研究 低波數(shù)拉曼特征結(jié)構(gòu)的濾光片。

• 高靈敏探測器 ：邊帶截止技術(shù)。 inVia顯微拉曼光譜儀使用雷尼紹 自己的超低噪聲、超高靈敏CCD相 機，這樣您可以在盡可能短的時間內(nèi)獲得的實驗結(jié)果。如果您希望添 加更多探測器，則可為inVia配置多達 4個探測器，如電子倍增 (EM) 探測器 和InGaAs陣列。 

• 真正的共焦性能 ：精確地按照您的需要配置。達到盡可能高的空間分辨率， 僅受固有光衍射極限限制。inVia顯微拉曼光譜儀的EasyConfocal光學系統(tǒng)提供真正的高空間分辨的共焦能力，不影響易用性、穩(wěn)定性以及光學效率。從亞微米高分辨測量到塊狀樣品的大尺度平均測量，都可實現(xiàn)輕松切換。

• 高性能顯微鏡 ：徠卡顯微鏡 — 優(yōu)質(zhì)、高效、可靠 。徠卡顯微系統(tǒng)的研究級顯微鏡 是inVia的標配，可裝備高數(shù)值孔徑 的物鏡鏡頭，實現(xiàn)高空間分辨率。

• 擴大樣品觀察范圍 ：清楚地看見您的樣品 。雙筒目鏡，帶有兩個工作目鏡，不僅可以直接觀察 樣品，還提供一個開闊的視場。您看見的區(qū)域要比原來 大得多 — 并且當您移動樣品時可獲得即時反饋。 當inVia配備樣品臺時，比如雷尼紹的高速光柵尺 反饋平臺 (MS30)，它生成的樣品圖像的覆蓋區(qū)域要比 顯微鏡視場大得多。您可以使用該圖像輕松為隨后的數(shù) 據(jù)采集確定位置。 

• 多激光器 ：無論您的樣品種類是什么，均可獲得質(zhì)的數(shù)據(jù) 。inVia具有各種直接耦合激光激發(fā)選項 — 從近紅外到 深紫外，確保您能夠根據(jù)需要調(diào)整儀器。例如，您可能希望 減小熒光或引起共振。inVia通?？膳鋫鋬苫蛉齻€激光器 作為標配，但也可根據(jù)您的需要進行配置以使用更多的激 光器。優(yōu)化的激光傳輸路徑確保您能夠從每個激光器獲得 結(jié)果。

• 生成高質(zhì)量拉曼圖像 ：清晰的化學圖像 。inVia提供全面成像技術(shù)，使您能夠從點、線、面， 甚至體積采集數(shù)據(jù)。StreamLine™、StreamHR™和 True Raman Imaging™是雷尼紹無二的成像技 術(shù)，可生成高質(zhì)量拉曼圖像。

• 全自動化 ：inVia易于使用和維護 。inVia的自動化省去了手動介入的需要。當您更換 關(guān)鍵部件時（例如濾光片、激光器和光柵），inVia將 自動重新配置其光學元件并優(yōu)化其準直。這使得分析更加有效，非常適合有多個使用者的繁忙的實驗室。

• 實時保持聚焦狀態(tài) ：樣品表面/界面追蹤技術(shù) 。采用LiveTrack™自動聚焦追蹤技術(shù)實時采集具有較大 高度變量的樣品的準確、可重復的光譜和形貌信息。無需 預掃描就能夠?qū)ν拱疾黄?、彎曲、粗糙的表面生成令人驚奇 的三維圖像。

• 采樣的靈活性 ：無論您的實驗需要什么，都能接近并控制您的樣品 。inVia可在單臺拉曼系統(tǒng)上提供各種配置和附件。 ? 各種物鏡鏡頭和環(huán)境樣品池可確保您在不同的環(huán)境條 件下分析樣品。 ? 對于太大而無法放置在標準顯微鏡下的樣品，靈活的 采樣臂使您可以將物鏡精確定位在所需位置。 ? inVia同樣支持研究級正置、倒置和開放框架顯微 鏡，以及用于長距離遠程分析的光纖探頭。

• 功能強大的軟件 ：采集、分析和顯示高質(zhì)量拉曼數(shù)據(jù) 。雷尼紹的WiRE (Windows based Raman Environment) 軟件是專門為研究拉曼光譜而設計的。它可控制光譜的采 集并提供全套數(shù)據(jù)處理和分析功能。

• 通過聯(lián)用增強能力 ：配用AFM、SEM、CSLM... 。將拉曼的能力與其他分析技術(shù)結(jié)合，例如掃描探針顯 微鏡（AFM和TERS）、掃描電子顯微鏡 (SEM)，或者共焦 激光掃描顯微鏡 (CLSM)。inVia靈活的設計也使其能夠與 眾多其他專業(yè)技術(shù)聯(lián)用，包括同步輻射加速器上的X射線 衍射系統(tǒng)以及光束線上的中子衍射系統(tǒng)。

• 安全性 ：使用安全，不影響簡單性和易用性 。inVia配備齊全，包括激光安全互鎖裝置和可選樣品遮 光罩。提供3B類、4類或1類激光安全選項，具體取決于配 置和所用激光器。

• 拉曼偏振選件 ：分析樣品的對稱性和取向性 。可選的偏振附件可以控制激光和光譜儀的偏振方向 （偏振片/分析儀）。采用這一附件，您可以分析得到 晶體的取向（例如微晶），也可以分析得到液體樣品的 退偏比。

• 補充成像選項 ：生成補充圖像，實現(xiàn)深入了解 。inVia還可將光電流數(shù)據(jù)和瑞利散射光生成圖像。這 些圖像可指導和補充拉曼測量，幫助您快速完成樣品檢 視。光電流成像可提供半導體材料的電子信息。瑞利成像 非常適合在進行全面拉曼分析之前定位顆粒 — 例如微塑料顆粒和石墨烯薄片。