X射線熒光分析的優(yōu)點(diǎn)：
●最少或無需樣品制備
●無損分析
●可測(cè)元素范圍廣：Ti22 to U92
●可分析固體和溶液
●分析快速：幾秒內(nèi)得到結(jié)果
●定性、半定量和全定量分析
●操作容易，只需要簡(jiǎn)單培訓(xùn)
詳細(xì)參數(shù) 請(qǐng)咨詢客服！ 利用X射線熒光（XRF）進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量和材料分析，提高過程和質(zhì)量控制。X-Strata是結(jié)構(gòu)緊湊、堅(jiān)固耐用、用于質(zhì)量控制的可靠的臺(tái)式X射線熒光分析設(shè)備， 提供簡(jiǎn)單、快速、無損的鍍層厚度測(cè)量和材料分析。它在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出的分析能力，可進(jìn)行多鍍層厚度的測(cè)量。
X-Strata920 – 性價(jià)比高，無損可靠
一款操作簡(jiǎn)單的質(zhì)量控制分析儀，滿足鍍層厚度測(cè)量和材料分析。
新型號(hào)設(shè)計(jì)
快速分析（幾秒）1-4層鍍層厚度
多款規(guī)格，例如標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)、加深樣品臺(tái)或自動(dòng)程控樣品臺(tái)，滿足所有樣品類型
開槽式樣品艙可檢測(cè)大面積樣品，例如印制線路板等
符合ISO3487和ASTM B568檢測(cè)方法
X-Strata920 - 三種配置滿足您的需要：
固定樣品臺(tái)
開槽式樣品艙允許檢測(cè)從小部件到大型平板樣品等各種樣品，如印制線路板。樣品的尺寸可以超出儀器寬度
經(jīng)濟(jì)、實(shí)用
平面樣品臺(tái)設(shè)計(jì)，適合高度不超過1.3"(33mm)的樣品分析
加深樣品臺(tái)
高度每英寸(25.4mm)可調(diào)，架構(gòu)式樣品艙可容納高度6.3"(160mm)的樣品
可以選4個(gè)樣品盤中任一個(gè)來盛放不同高度的樣品
開槽式樣品艙允許檢測(cè)從小部件到大型平板樣品等各種樣品，如印制線路板。樣品的尺寸可以超出儀器寬度
程控樣品臺(tái)
用于自動(dòng)化測(cè)量
方便根據(jù)測(cè)試位置放置樣品，并精準(zhǔn)定位測(cè)量點(diǎn)
開槽式樣品艙允許檢測(cè)大型平板樣品，如印制線路板
樣品臺(tái)尺寸：22"(D) x 24"(w)，即560mm (深) x 610mm (寬)
