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4096像素超高分辨率光纖光譜儀0.01nm分辨率/1100nm/低噪聲一、描述 ATP3034--4096像素超高分辨率光纖光譜儀系列是奧譜天成研制的高分辨率光纖光譜儀，其探測器像素高達4096個，響應范圍覆蓋UV至NIR波段(180-1100nm)
4096像素超高分辨率光纖光譜儀
0.01nm分辨率/1100nm/低噪聲
一、描述
ATP3034--4096像素超高分辨率光纖光譜儀系列是奧譜天成研制的高分辨率光纖光譜儀，其探測器像素高達4096個，響應范圍覆蓋UV至NIR波段(180-1100 nm)。光路、電路、信號處理方法均進行了深度優(yōu)化，從而實現(xiàn)了超高分辨率、超低噪聲的性能。
采用TE深度制冷的ATP3011P，進一步提高了信噪比和動態(tài)范圍。
ATP3011P只需一個5V直流電源供電，數(shù)據(jù)輸出接口有USB2.0或者UART，便于集成使用。
型號探測器像素探測器是否制冷
ATP像素探測器非制冷
ATP像素探測器非制冷
二、特征
l 探測器像素：4096
l 超高分辨率：至0.01nm
l 高靈敏度：650V(lx•s)
l 響應范圍：180 - 1100 nm
l 探測器制冷溫度：0 ℃
l 讀出速率：10 MHz max
l 光路結(jié)構(gòu)：交叉C-T
l 積分時間：1-65535 ms
l 供電電源：DC 5V±10% @<2A
l 光輸入接口：SMA905或自由空間
l 數(shù)據(jù)輸出接口：USB2.0(High speed)或UART
三、應用
l 微量、快速分光光度計
l 光譜分析/輻射分光分析/分光光度分析
l 透過率、吸光度檢測
l 反射率檢測
l 波長檢測(紫外、可見和短波近紅外)
l 橢偏儀
四、性能參數(shù)
圖1 ATP3010P的噪聲性能
圖2 ATP3011P(制冷型)的噪聲性能
圖2：長焦長、Czerny-Turner全反射式光學設(shè)計
機械尺寸
電氣接口
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