SiC器件測試儀/設(shè)備/系統(tǒng)，測試二極管 、IGBT，MOS管，SIC器件靜態(tài)參數(shù)，并生產(chǎn)器件傳輸曲線和轉(zhuǎn)移曲線，測試1600A，5000V以下的各種功率器件，廣泛應(yīng)用于器件設(shè)計(jì)，封裝測試，軌道交通，電動汽車 ，風(fēng)力發(fā)電，變頻器，焊機(jī)等行業(yè)的IGBT來料選型和失效分析。

SiC器件測試儀/設(shè)備/系統(tǒng)可用于多種封裝形式的 IGBT測試，還可以測量大功率二極管 、IGBT模塊，大功率 IGBT、大功率雙極型晶體管，MOS管等器件的 V-I 特性測試，測試1200A（可擴(kuò)展至2000A），5000V以下的各種功率器件，廣泛應(yīng)用于軌道交通，電動汽車 ，風(fēng)力發(fā)電，變頻器，焊機(jī)行業(yè)的IGBT來料選型和失效分析，設(shè)備還可以用于變頻器，風(fēng)電，軌道交通，電焊機(jī)等行業(yè)的在線檢修，無需從電路板上取下來進(jìn)行單獨(dú)測試，可實(shí)現(xiàn)在線IGBT檢測，測試方便，測試過程簡單，既可以在測試主機(jī)里設(shè)置參數(shù)直接測試，又可以通過軟件控制主機(jī)編程后進(jìn)行自動測試，通過電腦操作完成 IGBT 的靜態(tài)參數(shù)測試；

測試參數(shù)：

ICES  集電極-發(fā)射極漏電流

IGESF 正向柵極漏電流

IGESR 反向柵極漏電流

BVCES 集電極-發(fā)射極擊穿電壓

VGETH 柵極-發(fā)射極閾值電壓

VCESAT 集電極-發(fā)射極飽和電壓

ICON 通態(tài)電極電流

VGEON 通態(tài)柵極電壓

VF 二極管正向?qū)▔航?/p>

SiC器件測試儀/設(shè)備/系統(tǒng)整個測試過程自動完成，電腦軟件攜帶數(shù)據(jù)庫管理查詢功能，可生成測試曲線，方便操作使用

1) 物理規(guī)格

設(shè)備尺寸：500（寬）x 450（深）x 250（高）mm；

質(zhì)量：30kg

2) 環(huán)境要求

海拔高度：海拔不超過 1000m；

儲存環(huán)境：-20℃～50℃；

工作環(huán)境：15℃～40℃。

相對濕度：20%RH ~ 85%RH ；

大氣壓力：86Kpa～ 106Kpa。

防護(hù)：無較大灰塵，腐蝕或爆炸性氣體，導(dǎo)電粉塵等空氣污染的損害；

3) 水電氣 用電要求：AC220V，±10%；

電網(wǎng)頻率：50Hz±1Hz