K-600手持式礦石分析儀
秉承科邁斯多年的X熒光光譜儀(手持式光譜儀)研發(fā)經(jīng)驗，KMX全新一代手持XRF礦石分析儀——K-600再次帶來了一場分析領(lǐng)域的革命。K-600引入數(shù)字多道技術(shù)，使檢出限更低，穩(wěn)定性更高，適用面更廣，性能媲美臺式機；小巧便攜的體積在探礦、找礦以及各類地質(zhì)礦樣多元素檢測和分析、礦渣精煉分析中充分發(fā)揮作用，使探礦工作更為簡單、輕松。K-600手持式礦石分析儀可以用來對各種不同類型的礦石進行現(xiàn)場分析。通過現(xiàn)場測試的成熟的X射線管分析系統(tǒng)，性同位素，現(xiàn)場分析時能做出快速而全面的礦石類型研究，對樣品要求低，但是測試結(jié)果準確，能準確分析高濃度樣品，避免了驗證性的實驗室測試。
XRF資料建模技術(shù)：
1、X射線管光源、多光束過濾技術(shù)、以及惠普個人數(shù)位助理技術(shù)(惠普掌上型電腦)，從而使其采測范圍、檢測速度、檢測精度都非常出色，并具有的升級潛力。
2、使用了的和多用途的x射線資料模式—-采用康普頓常態(tài)化校正方法，可以利用“內(nèi)部標準”來進行定量分析，而不需要進行專門的校正。
3、基本參數(shù)分析：采用半定量分析方式，適合于檢驗各種不同元素的構(gòu)成的結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品。
4、實驗校正法：利用“校正曲線”進行校正，允許使用用戶產(chǎn)生的校正曲線。
5、配備了光譜高點識別軟體，可在顯示幕查看光譜
6、對比光譜，參考內(nèi)置標準完成比較分析。
地礦行業(yè)應(yīng)用優(yōu)勢
檢測元素：標準配置可檢測30多種元素，同時可按客戶需求增加檢測元素
專業(yè)性：礦石專用版分析軟件，采用智能一鍵測試
*個性化定制工作模式
多種礦樣模式選擇和無限數(shù)目模式的自由添加，根據(jù)客戶需求定制工作模式。
*充分挖掘礦山價值
高清攝像頭，可對被檢測的礦脈或礦點部位進行更直觀的觀察，并對開采過程進行精確管理和控制，隨時檢測礦石品位。
*對選礦過程中原礦、精礦和尾礦等進行精確快速分析，為礦石品位的測定、礦物貿(mào)易、加工以及再利用提供價值判定依據(jù)。
*環(huán)境監(jiān)控
對開采礦山周圍土壤中的重金屬進行監(jiān)測和檢測，評估礦山環(huán)境的修復(fù)情況，限度的監(jiān)測好礦山周邊的環(huán)境。
主要用途：
手持式礦石分析儀，用于礦業(yè)、地質(zhì)、土壤環(huán)境、底泥、沉積物中的有色金屬元素的快速分析測定。
1.主要配置要求:
1.1 礦石分析儀主機1套；
1.2 標準樣品1個；
1.3 原裝可充電鋰電池2塊；
1.4 充電座及電源線；
1.5 U盤(32G)1個；
1.6 加強型聚丙烯膜5片；
1.7 標準手提防潮防震箱一只。
技術(shù)參數(shù)及要求
1、檢測元素：可用于礦石、土壤環(huán)境中金屬元素，Mg、Al、Si、P、S、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hf、Ta、W、Hg、Se、Au、Br、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Ag、Cd、Sn、Sb、Re、Ir、Pt、Hg、Ru、Rh、Pd等元素。（紅色為SDD探測器配置）
2、探測器：美國Moxtek Si-pin（6 mm2）、美國Amptek Si-pin（25 mm2）、德國KETEK SDD探測器
3、激發(fā)源：大功率微型直板X射線管，W靶材，4W大功率X射線管，管電壓50KV，管電流可達100μA；
4、采用KMX技術(shù)，更高X射線計數(shù)率，超低電子噪聲設(shè)計。每次測試前，不需要外部標樣，自動能量校準核查；
5、濾光片：配置8個濾光片，可根據(jù)測試元素自動切換；
6、測試方法：基本參數(shù)法，支持經(jīng)驗系數(shù)法修正
7、點觸或扣動扳機控制測試開始，測試過程無需長扣扳機。根據(jù)客戶需求，也可以一直按著扳機測試樣品。
8、操作系統(tǒng)：Window CE 6.0操作系統(tǒng)，安全、放心
9、自診斷功能：儀器可自動對硬件、軟件、網(wǎng)絡(luò)、電池等進行診斷，并會生成日志，便于快速排查出故障
10、標配模式：礦石模式；選配模式：合金分析模式、土壤分析模式
