小角X射線散射（SAXS）：NANOSTAR
帶您探索納米世界的望遠(yuǎn)鏡|采用模塊化設(shè)計的專用小角度X射線散射（SAXS）系統(tǒng)，為您的實驗帶來靈活性
NANOGRAPHY - SAXS - WAXS - GISAXS
亮點：
Φ 14 厘米
通過VÅNTEC-500可得到較大的2D有效區(qū)域
通過這種較大的完整視野，一次即可拍攝收集到所有的各向同性或各向異性的散射信號。
>200納米
適用的長度范圍
模塊化設(shè)計可實現(xiàn)大范圍的散射覆蓋，以充分表征長度大于125 nm的納米結(jié)構(gòu)。
5-150 厘米
樣品到探測器的距離
探測器寬廣的定位范圍，可優(yōu)化對樣品的散射覆蓋情況。
帶擴展二次光束路徑的 NANOSTAR
NANOSTAR具有的模塊化特性，它是通過小角X射線散射（SAXS）、掠入小角X射線散射（GI-SAXS）、廣角X射線散射（WAXS）以及Nanography，對納米結(jié)構(gòu)以及納米結(jié)構(gòu)表面進行表征的理想工具。支持鏡面調(diào)節(jié)的針孔準(zhǔn)直系統(tǒng)提供了一種高強度和具有低寄生散射的平行線束，且保持了理想的圓形光束形狀。超大（XL）樣品室可容納各種專用樣品臺和第三方樣品臺，以便您在任何條件下對多種類型的樣品進行測量。最后，您將能通過大型、低背景、高度靈敏的2D探測器，收集各向同性和各向異性樣品的散射信號。
NANOSTAR特點
IμS微焦源
這款無二的X射線源無需水冷，即可提供非常穩(wěn)定的高強度點聚焦X射線束。得益于其堅固的設(shè)計，其射線源帶有3年保修。IμS包含了集成的MONTEL、的2D光束整形光學(xué)器件，可在樣品上實現(xiàn)強度。這種并排的多層反射鏡設(shè)計可捕獲來射線源發(fā)出的大x射線立體角，并在高度平行的單色光束中有效地重新定向。
NANOSTAR特點
XL樣品室
這款非常便利的超大型（XL）樣品室增設(shè)了許多通孔，可在真空、惰性氣體或大氣條件下運行。它還可容納許多其他的標(biāo)準(zhǔn)組件，便于您對多個樣品、第三方以及在定制階段進行個性化處理，以實現(xiàn)的可見度。而具有大移動范圍的電動X-Y樣品臺和輔助電動參考樣品架輪，更是能讓您輕而易舉地進行樣品自動對準(zhǔn)以及參考和背景掃描！
NANOSTAR特點
VÅNTEC-500 2D探測器
采用MikrogapTM 技術(shù)的VANTEC-500 2-D探測器可理想地滿足專用SAXS系統(tǒng)的所有要求。首先，無需氣體、水或例行維護，您亦無需擔(dān)心強輻射或運動損壞，因此，該探測器十分堅固易用。較大的有效區(qū)域（直徑14厘米）可實現(xiàn)大角度覆蓋，同時帶來完整的視野。極低的背景和較高的計數(shù)率，可實現(xiàn)出色的動態(tài)范圍，并且對于對弱散射樣品十分靈敏。出色的空間分辨率，可解決小間距散射問題。目前，尚無其他探測器可為這些應(yīng)用提供這類理想的功能組合。
NANOSTAR參數(shù)：
