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產(chǎn)品型號：WinSPM B? 多功能原子力顯微鏡? 采用壓電自感應(yīng)探針? 兼容激光檢測型探針? 技術(shù)、融合
產(chǎn)品簡介：
兼容自感應(yīng)探針和激光檢測探針的原子力顯微鏡（AFM），技術(shù)、融合?？煞謩e單獨實現(xiàn)形貌成像分析、譜曲線測量等功能，廣泛應(yīng)用于教育和研究領(lǐng)域。
儀器特點
兼容基于石英音叉的壓電自感應(yīng)探針（如Akiyama探針）和激光檢測探針。
采用自感應(yīng)探針可實現(xiàn)頻率調(diào)制模式的形貌成像和力梯度-距離曲線測量分析。
采用激光檢測探針可實現(xiàn)接觸和輕敲模式的形貌成像和各種譜測量分析功能。
采用高精度嵌入式測控系統(tǒng)，主機隔音抗震設(shè)計，抗干擾能力強。
可擴展納米加工、掃描隧道顯微鏡、靜電力顯微鏡等掃描探針顯微鏡功能。
可通過選配模塊和擴展接口增強系統(tǒng)功能。
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主要技術(shù)參數(shù)
一鍵式快速自動進樣，行程23mm，最小步距50nm。
手動調(diào)節(jié)樣品檢測位置，調(diào)節(jié)范圍±10.0mm。
樣品尺寸的直徑20mm，厚度20mm。
標配管型掃描器，掃描范圍約為20μm×20μm×5μm。
樣品逐行掃描成像，掃描成像速率0.1-30行/秒。
一次掃描多幅圖像，圖像分辨高達1024×1024物理象素。
自感應(yīng)探針采用頻率調(diào)制模式，數(shù)字化PID反饋控制的響應(yīng)時間為10μs。
嵌入式測控系統(tǒng)采用主頻為450MHz的雙核處理器（ARM + DSP），內(nèi)置數(shù)?；旌辖Y(jié)構(gòu)的鎖相放大器，與上位機連接采用以太網(wǎng)TCP/IP通訊協(xié)議。
標準配置：
主控制器
主機底座及隔音罩
主機探頭及探針架（A型和L型）
手動樣品調(diào)節(jié)臺（調(diào)節(jié)范圍±10.0mm）
管型掃描器（掃描范圍20μm）
計算機及專用測控軟件
儀器附件
A型探針架 （上：正面；下：背面） |
L型探針架 （上：正面；下：背面） |
選配模塊：
掃描隧道顯微鏡（STM）模塊，包括：掃描隧道顯微鏡的硬件與軟件、STM探針架
納米加工模塊，包括：圖形化納米加工、機械刻蝕、矢量掃描等功能
輔助觀察光學顯微鏡系統(tǒng)：物鏡倍數(shù)：0.7X～4.5X；總放大倍數(shù)：42-266X連續(xù)可調(diào)（14”有效顯示面積）；工作距離：115mm
管型掃描器模塊：掃描范圍有8μm、20/30μm和100μm共3種規(guī)格
平面閉環(huán)掃描器：掃描范圍為30μm×30μm×9μm
導電原子力顯微鏡（C-AFM）
靜電力顯微鏡（EFM）
磁力顯微鏡（MFM）
應(yīng)用領(lǐng)域及實驗
實驗一：原子力顯微鏡基本原理與操作，典型的應(yīng)用領(lǐng)域為納米科技、教育培訓，包括：納米表征研究、物理演示實驗，特別是2種探針成像技術(shù)的對比性實驗。
實驗二：基于自感應(yīng)探針原子力顯微鏡的形貌成像和譜測量分析，典型實驗內(nèi)容包括：軟磁盤、光盤、光柵等常規(guī)樣品的、頻率調(diào)制模式的形貌成像分析、納米臺階的測量和力梯度譜曲線的測量與分析。
實驗三：基于激光檢測探針原子力顯微鏡的形貌成像和譜測量分析，典型實驗內(nèi)容包括：軟磁盤、光盤、光柵等常規(guī)樣品接觸模式和輕敲模式的形貌成像分析、各種譜曲線的測量與分析。
實驗四：掃描隧道顯微鏡（STM），包括形貌成像和隧道譜。（需增配STM模塊）
實驗五：納米加工實驗，如圖形化納米刻蝕實驗。（需增配納米加工模塊）
實驗六：其它基于特殊針尖或?qū)嶒灧椒ǖ脑恿︼@微鏡的應(yīng)用領(lǐng)域，包括：導電原子力顯微鏡（C-AFM）、靜電力顯微鏡（EFM）、磁力顯微鏡（MFM）等。（需增配或定制相應(yīng)的功能模塊）。
儀器整體照片 |
光柵形貌圖(20×20μm) |
磁盤形貌圖(3×3μm) |
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