產(chǎn)品簡介：

Thermo Scientific™ Apreo SEM 具有廣泛地適用性，可以在較短時(shí)間內(nèi)為材料研究人員提供的成像質(zhì)量。

當(dāng) Apreo 的電子束打開，形貌和成分襯度可以同時(shí)被鏡筒內(nèi)探測系統(tǒng)呈現(xiàn)：無需繁瑣操作，即可快速探索并獲取樣品各方面信息。在高放大倍率下，Apreo 的長工作距離（如 10mm 分析工作距離）也能表現(xiàn)出杰出的分辨性能。即使在絕緣、電子束敏感或磁性的材料上，Apreo的用戶界面也可以高效地引導(dǎo)操作者獲得表征該納米結(jié)構(gòu)的參數(shù)條件。 Apreo 能在短時(shí)間內(nèi)解決錯(cuò)綜復(fù)雜的研究問題，適用于需要多功能以及多用戶操作的應(yīng)用場合。

Apreo 是研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺，其創(chuàng)新的末級透鏡設(shè)計(jì)，絲毫不會降低對磁性樣品的分辨能力。 靜電式末級透鏡（Apreo C 和 Apreo S）能夠?qū)崿F(xiàn)鏡筒內(nèi)多種信號的同時(shí)探測和高分辨率，而 Apreo S 則結(jié)合靜電、浸沒式磁場的復(fù)合透鏡以進(jìn)一步提高低電壓下的分辨率，在 1 kV加速電壓下的分辨率為 1.0 nm，不需要電子束減速。通過將浸沒式磁透鏡和靜電透鏡組合還可以實(shí)現(xiàn)的信號過濾功能。

Apreo 擁有透鏡內(nèi)背散射探測器 T1，其位置緊靠樣品，確保在較短的時(shí)間內(nèi)獲得大量的采集信號。與其他背散射探測器不同，這種快速的探測器在導(dǎo)航時(shí)、傾斜時(shí)或工作距離很短時(shí)能夠始終保持良好的材料襯度。在表征敏感樣品時(shí)，探測器的*性能尤為突出，即使電流低至幾 pA，它也能提供清晰的背散射圖像。Apreo S 復(fù)合末級透鏡通過能量過濾實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量的材料襯度以及絕緣樣品的無電荷成像，進(jìn)一步提高了 T1 BSE 探測器的使用價(jià)值。Apreo 還提供了受歡迎的選配探頭來補(bǔ)充其探測能力，例如定向背散射探測器(DBS)、STEM 3+ 和低真空氣體分析探測器(GAD)。所有這些探測器都擁有的軟件控制分割功能，以便根據(jù)需求選擇有價(jià)值的樣品信息。

每個(gè) Apreo 都按標(biāo)準(zhǔn)配備各種用以處理絕緣樣品的策略，包括：高真空技術(shù)，例如 SmartSCAN™、漂移補(bǔ)償幀積分(DCFI) 和電荷過濾。對于具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用，Apreo 可提供電荷緩解策略。其中包括可選的低真空（高為 500 Pa）策略，通過經(jīng)現(xiàn)場驗(yàn)證的穿鏡式差分抽氣機(jī)構(gòu)和專用低真空探測器，不但可以緩解任何樣品上的電荷，還能提供好的分辨率和較大的分析電流。

隨著分析技術(shù)的使用越來越常規(guī)化，Apreo 倉室經(jīng)過全新設(shè)計(jì)，以便更好地支持不同的配件和實(shí)驗(yàn)。倉室最多容納三個(gè) EDS/WDS 端口，可實(shí)現(xiàn)快速敏感的 X 射線測量、共面 EDS/EBSD/TKD 排列并與（冷凍）CL、拉曼、 EBIC 和其他技術(shù)兼容。所有這些功能都能通過簡單的樣品處理和熟悉的 xT UI 獲得，節(jié)省了新用戶和專家級用戶的時(shí)間?？勺远x的用戶界面提供了諸多用戶指導(dǎo)、自動化和遠(yuǎn)程操作選項(xiàng)。通過所有這些優(yōu)勢（包括復(fù)合末級透鏡、高級探測和靈活樣品處理）， Apreo 可提供出色的性能和多功能性，幫助您應(yīng)對未來多年的研究難題。