動態(tài)干燥度分析儀利用多散斑擴(kuò)散波光譜學(xué)，在膜形成的過程中研究顆粒的運(yùn)動

動態(tài)干燥度分析儀利用多散斑擴(kuò)散波光譜學(xué)，在膜形成的過程中研究顆粒的運(yùn)動。測量系統(tǒng)包括一個產(chǎn)生干涉的激光光源、接受干涉的背散射光的檢測器。通過對膜的干燥動力學(xué)曲線的分析，可以得到有關(guān)膜形成過程中分子運(yùn)動及重排等信息。

利用多散斑擴(kuò)散波光譜學(xué)，在膜形成的過程中研究顆粒的運(yùn)動。測量系統(tǒng)包括一個產(chǎn)生干涉的激光光源、接受干涉的背散射光的檢測器。干涉的圖像被稱作散斑圖像，由多像素檢測器檢測。

的干涉光斑光譜成像技術(shù)可以記錄從粒子的從運(yùn)動速度非常快（濕膜）到運(yùn)動速度非常緩慢（干膜）的速度變化動態(tài)。變化的動力學(xué)過程可以通過流動性因子對時間的變化關(guān)系曲線進(jìn)行量化。

可以測量不同基底：金屬、塑料、玻璃、木頭、混凝土、紙、薄膜…

-  可以測量膜的厚度 : 高達(dá)500 µm

-  數(shù)據(jù):

1.   成膜動力學(xué)報告：流動性因子對時間的變化關(guān)系曲線

2.   根據(jù)膜的類型（水劑涂料或其他），自動計(jì)算特征點(diǎn)

3.  特征點(diǎn)的數(shù)據(jù)表摘要

4.  數(shù)據(jù)可以輸出到excel表格中

主要規(guī)格

檢測頭：

光源:  650 nm激光光源 (class II – 0.9 mW)

檢測器: 背散射光接受 (MS-DWS多斑漫散射波光譜學(xué))

測量平臺:

防震平臺

測量厚度: 厚達(dá)500 µm 膜厚度

數(shù)據(jù)采集:

可以從秒到數(shù)天. 可達(dá)30次采集/秒