Elcometer 400是與英國的國家物理實驗室（NPL）合作開發(fā)的，它的小面積測量區(qū)域和*的樣本放置系統(tǒng)確保了零部件的精確定位，所以非常適合于小面積、彎曲或復(fù)雜外形表面的測量。

Elcometer 400 Novo-Curve™ 曲面光澤度儀

Elcometer 400是與英國的國家物理實驗室（NPL）合作開發(fā)的，它的小面積測量區(qū)域和*的樣本放置系統(tǒng)確保了零部件的精確定位，所以非常適合于小面積、彎曲或復(fù)雜外形表面的測量。
Elcometer 400 光澤度儀的8mm 2（0.01平方英寸）測量面積是標(biāo)準(zhǔn)光澤度儀通常所要求面積的大約3%。

Elcometer 400 Novo-Curve™ 曲面光澤度儀特性：

連續(xù)測量模式，可對表面光澤度變化進行迅速評估
統(tǒng)計分析一鍵進行
內(nèi)置式記憶——儀器可存儲多達199個讀數(shù)
USB數(shù)據(jù)輸出至PC——用Elcometer的Novo-Soft™軟件迅速做出報告
自動劃定幾何范圍——在所有的光澤度范圍內(nèi)都可讀取讀數(shù)，從無光澤到鏡面光澤
引發(fā)遠程數(shù)據(jù)捕獲

Elcometer 400 Novo-Curve™ 曲面光澤度儀技術(shù)參數(shù)