Talos F200X S/TEM 融合了出色的高分辨率 STEM 和 TEM 成像功能、行業(yè)的能譜儀 (EDS) 信號(hào)檢測(cè)功能及基于成分面分析的三維化學(xué)表征功能。Thermo Scientific Velox TM S/TEM 控制軟件通過(guò)智能掃描引擎、基于多個(gè) STEM 探測(cè)器的多通道合并技術(shù)以及差分相位襯度 (DPC) 成像技術(shù)，顯著改善了 S/TEM 成像質(zhì)量，可以更好地分析電磁結(jié)構(gòu)，并實(shí)行快速、準(zhǔn)確的 EDS 數(shù)據(jù)處理和定量分析。
X-FEG 高亮度電子槍可以在提供高達(dá)標(biāo)準(zhǔn)肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍五倍亮度的同時(shí)保持較小的會(huì)聚角。用戶可以獲取高信噪比以及的 STEM、EDS 圖像分辨率和更多高分辨 TEM 應(yīng)用。X-FEG 高亮度電子槍所具有的高穩(wěn)定性及使用壽命很長(zhǎng)等特點(diǎn)，使其具有更高的成像效率。

FEI Talos F200X

該儀器廣泛用于高分子材料、陶瓷、納米材料、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、化學(xué)、物理學(xué)、地質(zhì)學(xué)、金屬、半導(dǎo)體材料等領(lǐng)域的科學(xué)研究。