使用AFM-IR技術(shù)的nanoIR3具有小于10 nm分辨率的性能
基于原子力顯微鏡（AFM）的紅外光譜技術(shù)（AFM-IR），使用 AFM 探針對樣品局部通過紅外吸收產(chǎn)生的熱膨脹信號進行檢測。因此，AFM-IR 技術(shù)不僅擁有 AFM 的空間分辨率，而且可以進行基于紅外光譜的化學(xué)分析和成分分布成像。以多年行業(yè)的 AFMIR 儀器研發(fā)制造為基礎(chǔ)，融合的技術(shù)，全新的 Bruker Anasys nanoIR3 系統(tǒng)集成了納米尺度紅外光譜技術(shù)、化學(xué)成像、材料性質(zhì)成像等一系列功能，以其的性能在生命科學(xué)、化學(xué)和材料學(xué)領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。
nanoIR3系統(tǒng)的主要特點
1）Tapping AFM-IR 技術(shù)可以實現(xiàn)小于10 nm 分辨率的化學(xué)成像
2） HYPERspectra 技術(shù)實現(xiàn)高性能的納米尺度 FTIR 光譜
3） 納米尺度材料性質(zhì)分布
4）可匹配行業(yè) FTIR 數(shù)據(jù)庫
Tapping AFM-IR技術(shù)實現(xiàn)小于10 nm分辨率的化學(xué)成像
申請中全新的Tapping AFM-IR成像技術(shù)實現(xiàn)了結(jié)合空間分辨率與高成像速度的化學(xué)成像技術(shù)。無論您的目標(biāo)是對聚合物進行化學(xué)成分分布表征，亦或是對最小的污染物顆?；?qū)Φ亩鄬幽んw系進行化學(xué)成分分析，都可以輕松快捷的獲得高分辨率的化學(xué)成像。
HYPERspectra實現(xiàn)數(shù)秒內(nèi)高速光譜采集
布魯克HYPERspectra激光技術(shù)將共振增強AFM-IR技術(shù)擴展至更廣的光譜范圍(包括OH，CH伸縮振動以及N-H伸縮振動區(qū)域)。這項專有技術(shù)為更為廣泛的應(yīng)用所必須的分辨率與靈敏度設(shè)定了新標(biāo)準(zhǔn)，同時仍可以在納米尺度下提供杰出的直接關(guān)聯(lián)FTIR光譜。
的空間分辨率和單層靈敏度
專有的Tapping AFM-IR技術(shù)和HYPERspectra技術(shù)樹立了分辨率與靈敏度的新標(biāo)準(zhǔn)，在保持單層靈敏度的同時，實現(xiàn)了小于10 nm的空間分辨率。
納米尺度材料性質(zhì)分布成像
集成化、全功能的AFM系統(tǒng)具有多種熱學(xué)、力學(xué)以及電學(xué)模式進行材料性質(zhì)分表征，以實現(xiàn)的多模式表征在材料學(xué)和生命科學(xué)中的廣泛應(yīng)用。
POINTspectra技術(shù)成像與光譜采集
nanoIR3還可以實現(xiàn)紅外化學(xué)成像對感興趣特征的化學(xué)變化表征。的POINTspectra功能使用單個激光光源提供點光譜采集和化學(xué)成像功能，從而縮短數(shù)據(jù)采集時間，提供了一個更具成本效益的研究解決方案
與業(yè)內(nèi)FTIR數(shù)據(jù)庫匹配
nanoIR3提供了高質(zhì)量的紅外光譜，可以將其導(dǎo)出到業(yè)內(nèi)FTIR數(shù)據(jù)庫中以鑒別樣品成分。
環(huán)境控制
nanoIR3提供多種樣品環(huán)境控制功能，包括對溫度、濕度以及多種氣體氛圍的控制。
nanoIR3 技術(shù)參數(shù) |
激光器波數(shù)范圍 | HYPERspectra QCL 780 – 1800 cm-1 FASTspectra OPO 2710 – 3600 cm-1 FASTspectra QCL option 950 – 1900 cm-1 |
X-Y-Z 掃描范圍 | 50 µm × 50 µm × 6 µm |
標(biāo)準(zhǔn)成像模式 | 輕敲模式；相位成像模式；接觸模式；側(cè)向力模式；力曲線模式 |
標(biāo)準(zhǔn)IR模式 | Tapping AFM-IR 模式； FASTmapping 模式； 共振增強 AFM-IR 模式 |
可選成像模式 | 納米熱學(xué)分析(nanoTA)； 掃描熱學(xué)顯微鏡(SThM)； 導(dǎo)電原子力顯微鏡（CAFM）； 開爾文探針原子力顯微鏡(KPFM)； 洛倫茲接觸共振(LCR) |
AFM可選配件 | 環(huán)境控制腔； 加熱冷卻模塊； 液下成像模塊 |
