NanoSensors由原IBM公司的納米技術(shù)專家Oladf Wolter博士于1991年創(chuàng)建。NanoSensors公司是世界上重要的面對(duì)提供高品質(zhì)AFM探針的廠家。

NanoSensors出產(chǎn)的針尖曲率半徑小于10nm的AFM硅探針，對(duì)世界上許多重大的科學(xué)成果都有著貢獻(xiàn)。在多年間，NanoSensors不斷創(chuàng)新技術(shù)，擴(kuò)展了AFM探針的種類，并獲得多個(gè)國(guó)際獎(jiǎng)項(xiàng)。

2002年，NanoSensors加入瑞士的NanoWorld集團(tuán)，繼續(xù)堅(jiān)持為的科研工作者提供品質(zhì)的AFM探針。

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NanoSensors常用的產(chǎn)品

PPP-NCHR
輕敲模式/非接觸模式探針，每個(gè)基片有一個(gè)長(zhǎng)方形懸臂，共振頻率330kHz，彈性系數(shù)42N/m，針尖曲率半徑<10nm，背面鍍鋁反射層。

PPP-CONTR
接觸模式探針，每個(gè)基片有一個(gè)長(zhǎng)方形懸臂，共振頻率13kHz，彈性系數(shù)0.2N/m，針尖曲率半徑<10nm，背面鍍鋁反射層。

PPP-MFMR
用于磁力顯微鏡測(cè)量，每個(gè)基片有一個(gè)長(zhǎng)方形懸臂，共振頻率75kHz，彈性系數(shù)2.8N/m，針尖曲率半徑<50nm，針尖鍍硬磁性材料鍍層。

PointProbe Plus (PPP)系列 常用探針

PointProbe Plus系列探針為NanoSensors的最被廣泛使用的探針，適用于大部分的應(yīng)用及商品化的AFM。

PointProbe Plus系列探針的針尖典型曲率半徑為小于7nm，可實(shí)現(xiàn)高分辨率的應(yīng)用。整個(gè)系列保證了高品質(zhì)及高穩(wěn)定性。　

SuperSharp Silicon (SSS)系列 超尖探針

SuperSharp Silicon系列探針使用特別的針尖制作技術(shù)生產(chǎn)，專門為超高分辨的成像所設(shè)計(jì)。

SuperSharp Silicon系列探針的針尖典型曲率半徑為小于2nm，實(shí)現(xiàn)超高分辨率的應(yīng)用。整個(gè)系列保證了高品質(zhì)及高穩(wěn)定性。　

High Aspect Ratio Probes (AR5/AR5T/AR10/AR10T)系列

高長(zhǎng)徑比探針

AR系列探針專門為測(cè)量具有大長(zhǎng)徑比或垂直臺(tái)階結(jié)構(gòu)的樣品而設(shè)計(jì)。

AR系列探針具有接近垂直的針尖，總體針尖長(zhǎng)度達(dá)到10-15um，針尖的曲率半徑小于5度（AR10小于2.8度）。　

Diamond Coated PointProbe Plus (DT/CDT)系列 金剛石鍍層探針

DT(金剛石)和CDT(導(dǎo)電金剛石)系列探針適用于針尖與樣品之間需要大接觸力的情況，同樣也應(yīng)用于摩擦力測(cè)量、樣品彈性測(cè)量等。

MFM 磁力顯微鏡探針

多種規(guī)格（硬磁或軟磁）的磁力顯微鏡探針專門為不同的材料及應(yīng)用而設(shè)計(jì)。所有探針的磁性鍍層，均具有的穩(wěn)定性。

Carbon Nanotube (CNT)系列 碳納米管探針

Carbon Nanotube探針是專門為需要超高分辨率、高速掃描及弱探針-樣品作用力的應(yīng)用而設(shè)計(jì)的。

碳納米管探針使用化學(xué)沉積的方法，在PPP系列針尖的處，生長(zhǎng)出碳納米管，從而具有最小的針尖曲率半徑、超高的長(zhǎng)徑比及的耐磨性。CNT系列在NanoSensors的全部探針中，能獲得的分辨率。

AdvancedTEC (ATEC)系列

AdvancedTEC系列探針，在懸臂的最邊緣處具有四面體形狀的針尖。這種的技術(shù)使得ATEC系列探針可以從上方觀察到針尖的探針，從而使得用戶可以獲得精確的針尖-樣品定位。

Plateau (PL)系列

Plateau系列探針，使用離子束切割技術(shù)，將傳統(tǒng)錐形的針尖弄鈍，在針尖處形成一個(gè)直徑為1.8μm的圓形平臺(tái)，為用戶的特殊應(yīng)用提供了個(gè)性化的探針。

Transfer Standards /Calibration Standards 標(biāo)準(zhǔn)樣品

NanoSensors提供的高精度標(biāo)準(zhǔn)樣品包括：

1. 二維正交標(biāo)準(zhǔn)樣品：周期分別為100nm、200nm和300nm。

2. 高度標(biāo)準(zhǔn)樣品：臺(tái)階高度為8nm。

3. 粗糙度標(biāo)準(zhǔn)樣品：100um以內(nèi)的峰峰值小于10nm。 　

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