無(wú)標(biāo)題文檔Filmetrics F20 薄膜厚度測(cè)量?jī)x
測(cè)量厚度從 1nm 到 10mm 的膜厚測(cè)量系統(tǒng)
不論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數(shù),還是想要知道材料的反射率和透過(guò)率,F(xiàn)20都能滿(mǎn)足您的需要。僅需花費(fèi)幾分鐘完成安裝,通過(guò)USB連接電腦,設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測(cè)量結(jié)果。基于模塊化設(shè)計(jì)的特點(diǎn),F(xiàn)20適用于各種應(yīng)用。
一:測(cè)量厚度、折射率、反射率和穿透率:
單層膜或多層膜疊加
單一膜層
液態(tài)膜或空氣層
二:不同條件下的測(cè)量,包括:
所有的這些功能都伴隨著直觀的軟件界面以及我們即時(shí)的電話(huà)和互聯(lián)網(wǎng)支持(24小時(shí)/每周5工作日)。這就是Filmetrics的優(yōu)勢(shì),歡迎您試一試!
膜層范例
基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系數(shù)的薄膜都可以測(cè)量。
這包括幾乎所有的電介質(zhì)與半導(dǎo)體材料,例如:
應(yīng)用范圍SiNX | TiO2 | DLC |
光刻膠SU-8 | 聚合物 | 有機(jī)電致發(fā)光器AIQ材料 |
非晶硅 | ITO | 硒化銅銦鎵CIGS |
厚度測(cè)量范圍
測(cè)量原理為何?
軟件功能以使用者為導(dǎo)向
其他的選用配件
選擇Filmetrics的優(yōu)勢(shì)
附加特性
應(yīng)用
半導(dǎo)體膜層 | 液晶顯示器 |
光刻膠 | OLED |
加工膜層 | 玻璃厚度 |
介電層 | ITO和TCOs |
光學(xué)鍍層 | 生物醫(yī)學(xué) |
硬涂層 | 聚對(duì)二甲苯 |
抗反射層 | |