熱流儀/快速冷熱沖擊測試機/高低溫熱流儀/高低溫氣流儀/快速冷熱交替氣流儀/電子芯片熱流儀

      熱流儀、快速高低溫沖擊測試儀適用于各類半導體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等）、電子行業(yè)等進行IC 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗。

熱流儀/快速高低溫沖擊測試機與傳統(tǒng)高低溫測試箱、溫濕度測試箱對比主要優(yōu)勢：
1、可針對 PCB 電路板上眾多元器件中的某一單個 IC (模塊)，單獨進行高低溫沖擊，而不影響周邊其它器件
2、inTEST 對測試機平臺 load board 上的 IC 進行溫度循環(huán) / 沖擊；傳統(tǒng)高低溫試驗箱無法針對此類測試

【工作原理】

　　1、試驗機輸出氣流罩將被測試品罩住，形成一個較密閉空間的測試腔，試驗機輸出的高溫或低溫氣流，使被測試品表面溫度發(fā)生劇烈變化，從而完成相應的高低溫沖擊試驗；

　　2、可針對眾多元器件中的某一單個IC或其它元件，將其隔離出來單獨進行高低溫沖擊，而不影響周邊其它器件，與傳統(tǒng)冷熱沖擊試驗箱相比，溫變變化沖擊速率更快。

【工作模式】

　　A）2路主空氣管輸出，由分布頭分為8路供氣，帶2套1拖8 系統(tǒng)

　　B) 2種檢測模式 Air Mode 和 DUTMode測試和循環(huán)于高溫/常溫/低溫(或者不要常溫）

       1. 設備型號：WBE-KSWDCJ01

　　2. 樣品盒尺寸：直徑140mm×高50mm

　　3. 制冷方式：采用風冷式HFC環(huán)保制冷劑復疊系統(tǒng)，溫度可達-70℃

　　4. 噪音：≤65dB（A聲級）

　　5. 條件：風冷式環(huán)境溫度在+23℃時

　　6. 溫度控制范圍：-70℃～+250℃

　　7. 沖擊溫度范圍：-60℃～+200℃

　　8. 溫度轉(zhuǎn)換時間：≤10秒

　　9. 溫度偏差：測試品恒定在-40℃時,溫度偏差為±1℃

　　10.沖擊氣流量：1.9~8.5L/s(分為8路，每路0.23~1.06 L/s）連續(xù)氣流

　　11.溫變速率降：RT+10℃降至-40℃≤60s

　　12.試品表面溫度：RT+10℃降至-40℃約1分鐘試品表面溫度達到，氣體溫度與樣品溫度可選擇測控

　　13.控制系統(tǒng)：采用進口智能PLC觸摸屏控制，7寸彩色屏

　　14.試品：帶2套1拖8 系統(tǒng)，金屬封裝PCB板模塊8片；

　　15.前端空氣經(jīng)干燥過濾器處理,產(chǎn)品測試區(qū)及附近無明顯結(jié)露現(xiàn)象。設備可以連續(xù)運轉(zhuǎn)不需進行除霜。

　　16.外形尺寸：寬650×高1400×深900（mm）以實物為準

　　17.使用電源：220V 3KW