高低溫濕熱試驗箱

高低溫濕熱試驗箱--產(chǎn)品用途

低溫濕熱試驗箱適用于、航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、汽車各種電子元?dú)饧诟叩蜏鼗驖駸岘h(huán)境下、檢驗其各項性能指標(biāo)。

高低溫濕熱試驗箱--性能特點(diǎn)

具有及寬的溫（濕）度控制范圍和的控制精度，可滿足國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》1、2、3、4項的試驗要求。

采用的平衡調(diào)溫（調(diào)濕）方式，可調(diào)節(jié)理想溫（濕）度環(huán)境，可進(jìn)行高精度、高穩(wěn)定的溫（濕）度控制。

制冷（除濕控制）：PLC根據(jù)箱內(nèi)溫（濕）度的設(shè)定值和實(shí)際值自動控制壓縮機(jī)和制冷閥，滿足不同的試驗要求，減少設(shè)備運(yùn)行功率，確保壓縮機(jī)的安全運(yùn)行。

高低溫濕熱試驗箱--符合標(biāo)準(zhǔn)

GB/T10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件

GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件　

GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件 　

GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件 　　

GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備

GB/T5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備

GB/T 5170.18-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備GB/T2423.1-2008/IEC 60068-2-1：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫GB/T2423.2-2008 /IEC 60068-2-2：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫GB/T2423.3-2006/IEC 60068-2-78：2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗

GB/T 2423.4-2008/IEC 60068-2-30：2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Db:交變濕熱(12h + 12h循環(huán))

GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14：2009 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化

GB/T 2423.34-2012/IEC60068-2-38：2009 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗

GB/T 2423.50-2012/IEC 60068-2-67：1995環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cy:恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗

GB/T2424.1-2015/IEC 60068-3-1：2011 環(huán)境試驗 第3部分:支持文件及導(dǎo)則 低溫和高溫試驗

GB/T 2424.5-2006/IEC 60068-3-5：2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度試驗箱性能確認(rèn)

GB/T 2424.6-2006/IEC 60068-3-6：2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度/濕度試驗箱性能確認(rèn)

GB/T 2424.7-2006/IEC 60068-3-7：2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗A和B(帶負(fù)載)用溫度試驗箱的測量

GJB 150.3A-2009裝備實(shí)驗室環(huán)境試驗方法 第３部分：高溫試驗

GJB 150.4A-2009裝備實(shí)驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗

GJB 150.9A-2009 裝備實(shí)驗室環(huán)境試驗方法 第9部分：濕熱試驗

GJB 360B-2009中的方法103 穩(wěn)態(tài)濕熱試驗和方法106 耐濕試驗

高低溫濕熱試驗箱--規(guī)格與技術(shù)參數(shù)（可制作非標(biāo)尺寸）

上述指標(biāo)在室溫為+23℃時，溫濕度性能測試按照國家標(biāo)準(zhǔn)《JJF1101-20003》相關(guān)條款檢定。