★ 應(yīng)用領(lǐng)域：

   本設(shè)備主要用于產(chǎn)品的使用溫度儀環(huán)境模擬，不僅適用于新能源測(cè)試使用，同樣適用于電工電子產(chǎn)品及其他產(chǎn)品、零部件和材料進(jìn)行高低溫恒定和漸變等環(huán)境模擬可靠性試驗(yàn)。

一、技術(shù)性能

產(chǎn)品名稱

雙層高低溫試驗(yàn)箱

產(chǎn)品型號(hào)

PN-GDW2-408

內(nèi)箱尺寸

W(寬)800 mm*H(高)600 mm*D(深)600 mm

外箱尺寸

W(寬)1850mm*H(高)2250mm*D(深)1750mm

溫馨提示：外部尺寸請(qǐng)依最終設(shè)計(jì)確認(rèn)三視圖為準(zhǔn)！

溫度范圍

-40℃～+150℃

溫度波動(dòng)度

±0.5℃

溫度偏差

±2.0℃

溫度均勻度

≤±2℃ (空載恒定狀態(tài)時(shí))

量測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

量測(cè)SENSOR 置放點(diǎn),離內(nèi)箱壁內(nèi)尺寸1/10處

升溫時(shí)間

全程平均3℃/分鐘（非線性空載）

降溫時(shí)間

全程平均1.0℃/分鐘（非線性空載）

二、設(shè)備適用標(biāo)準(zhǔn)

滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.1-2001 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

GB/T 2423.2-2001 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法

GJB 150.3-1986   高溫試驗(yàn)

GJB 150.4-1986   低溫試驗(yàn)

IEC68-2-1 試驗(yàn)A：寒冷.

GB 11158《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》

GB/T 2423.2《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》.

GB/T2423.4-93《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》試驗(yàn)Db交變濕熱試驗(yàn)方法

GB/T2423.3-93《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn) 等等

備注：其他箱體尺寸皆可滿足要求，如有需要可定制！