Dereo HR高分辨率便攜式平板探測器

Xris （X-ray Imaging Solutions CO.,LDT）

比利時X射線數(shù)字圖像公司是歐洲的工業(yè)射線數(shù)字檢測方案的，是比利時發(fā)展的50家高科技企業(yè)之一，推出的GemX（寶石）系列便攜式射線機、Gxc移動式射線機、Dereo（迪瑞歐）射線數(shù)字成像系統(tǒng)（DR）。

產(chǎn)品為世界主流的工業(yè)無損檢測探傷產(chǎn)品，針對航空航天、工、運輸設(shè)備、機械制造、壓力容器、電力、石油化工、能源、安檢安監(jiān)、防爆安保和考古科研領(lǐng)域都有專業(yè)的射線檢測技術(shù)方案和配置。

Dereo（迪瑞歐）系列產(chǎn)品：

高分辨率小型探測器：HR0510；HR1010；

100μm高分辨率探測器：UP2530；UP3643；

高能多用途平板探測器：HE2530；HE4040；

在線式高能平板探測器：RAD2530，RAD4040。

Dereo HR高分辨率便攜式平板探測器

適用于航空&航天（NADCAP認證）、石化、機械和電力等的金屬材料、非金屬材料和復(fù)合材料的缺陷檢測

主要參數(shù)：

探測器類別：CMOS

射線耐壓：0-200kV

像素尺寸：48μm/96μm

灰度等級(A/D):14 bits

成像面積：50*100毫米/100*100毫米/100*150毫米

外形尺寸：W127.5×H80×T25.5毫米

W143.5×H107×T25.5毫米

整機重量：0.6公斤/0.9公斤

軟件：Xris Maestro V5.1.0

交流電源或自帶電池作業(yè)（持續(xù)工作6~8小時）

特點：

（1）能達到Class B成像等級，滿足NADCAP認證要求；

（2）符合國內(nèi)外NDT標準ISO17636，ASTM-E2698，E2736，E2737，E2597…；

（3）高信噪比，高空間分辨率和精度。

（4）軟件界面友好，功能強大，為專業(yè)的無損檢測軟件，適用范圍廣泛；

（4）體積小，厚度薄，重量輕，結(jié)構(gòu)小巧，方便布置。