類型:超聲波掃描顯微鏡品牌:HIWAVE型號:S200一、產品名稱、規(guī)格型號、數量1.1產品名稱:超聲掃描顯微鏡1.2規(guī)格型號:HiwaveS2001.3數量:1臺((產品不斷改進
類型: | 超聲波掃描顯微鏡 | 品牌: | HIWAVE |
型號: | S200 |
一、產品名稱、規(guī)格型號、數量
1.1 產品名稱:超聲掃描顯微鏡
1.2 規(guī)格型號:Hiwave S200
1.3 數量:1臺
((產品不斷改進,以實物為準)
二、工作環(huán)境要求
2.1 環(huán)境溫度要求:20~35℃
2.2 環(huán)境相對濕度:35℃≤50%RH
2.3 工作電源:220V±10%/50Hz,3KW
2.4 水源:自來水,或去離子水,水溫要求:15~30℃
2.5 周邊環(huán)境:
不要放在強磁場、電磁波和產生高頻設備的旁邊。
減少振動。
灰塵少、濕氣少,沒有腐蝕性氣體的地方。
電源的變化,限制到最小。
為了防止地震的損壞,四周一定要固定。
三、技術指標
3.1 系統特性
整機尺寸:1.8m×1.3m×1.55m
掃描范圍:900mm×600mm×250mm;
典型掃描耗時:小于40s(測試條件:掃描區(qū)域10mm×10mm,分辨率50um);
掃描速度:500mm/s;
圖像推薦分辨率:1~4000um;
厚度檢測范圍(根據客戶工件的材料和厚度選配)
Ag材料: Cu材料:
0.3 ~ 1.5mm(25MHz探頭); 0.5 ~ 1.4mm(25MHz探頭);
1.0 ~ 4.0mm(15MHz探頭); 1.2 ~ 3.7mm(15MHz探頭);
定位精度:X/Y≤±1μm,Z≤±10μm;
重復定位精度:X/Y≤±0.02mm,Z≤±0.02mm
3.2 軟件功能
3.2.1 常規(guī)軟件功能
一鍵校準、手動掃描(A/B/C掃描模式)、批量掃描、導出報告、探頭切換、強度檢測、相位檢測、厚度檢測、斷層檢測。
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