●在線測試的優(yōu)勢●快速的測試方法●開/短路測試●被動(dòng)組件測試●離散邏輯測試●模擬組件測試JTAG/邊界掃描的優(yōu)勢自1990年以來的標(biāo)準(zhǔn)化測試方法測試高度復(fù)雜的數(shù)字設(shè)備

●在線測試的優(yōu)勢
●快速的測試方法
●開/短路測試
●被動(dòng)組件測試
●離散邏輯測試
●模擬組件測試

JTAG/邊界掃描的優(yōu)勢
自1990年以來的標(biāo)準(zhǔn)化測試方法
測試高度復(fù)雜的數(shù)字設(shè)備，如微處理器，F(xiàn)PGA和PLD
內(nèi)存和閃存的測試
可編程邏輯器件，EEPROM和閃存

Supertest T800FV
高速和準(zhǔn)確的裝配線路板測試，增加產(chǎn)能、提高質(zhì)量和可靠性
平價(jià)、易用，即使不熟練的操作工人也可使用，大大降低成本
支持區(qū)域網(wǎng)及統(tǒng)計(jì)流程控制、提供整體解決方案

SCANBOOSTER/USB-FXT的設(shè)計(jì)組件和運(yùn)作組件
性能價(jià)格比很高
多個(gè)應(yīng)用導(dǎo)向（集成電路，在線燒錄，系統(tǒng)）
靈活和可擴(kuò)展體系的結(jié)構(gòu)

邊界掃描(Boundary scan )是一項(xiàng)測試技術(shù)，是在傳統(tǒng)的在線測試不在適應(yīng)大規(guī)模，高集成電路測試的情況下而提出的，就是在IC設(shè)計(jì)的過程中在IC的內(nèi)部邏輯和每個(gè)器件引腳間放置移位寄存器(shift register).每個(gè)移位寄存器叫做一個(gè)CELL。這些CELL準(zhǔn)許你去控制和觀察每個(gè)輸入/輸出引腳的狀態(tài)。當(dāng)這些CELL連在一起就形成了一個(gè)數(shù)據(jù)寄存器鏈(Data Register Chain)，我們叫它邊界寄存器(Boundary Register)。除了上面的移位寄存器外，在IC上還集成測試訪問端口控制器 (TAP controller)，指令寄存器(Instruction Register)對(duì)邊界掃描的指令進(jìn)行解碼以便執(zhí)行各種測試功能。旁路寄存器(bypass register)提供一個(gè)最短的測試通路。另外可能還會(huì)有IDCODE register和其它符合標(biāo)準(zhǔn)的用戶特殊寄存器。

邊界掃描器件典型特征及邊界掃描測試信號(hào)的構(gòu)成。
如果一個(gè)器件是邊界掃描器件它一定有下面5個(gè)信號(hào)中的前四個(gè)：
1．TDI (測試數(shù)據(jù)輸入)
2．TDO (側(cè)試數(shù)據(jù)輸出)
3．TMS (測試模式選擇輸入)
4．TCK (測試時(shí)鐘輸入)
5．TRST (測試復(fù)位輸入，Optional)
TMS，TCK，TRST構(gòu)成了邊界掃描測試端口控制器(TAP controller)，它負(fù)責(zé)測試信號(hào)指令的輸入，輸出，指令解碼等，TAP controller是一個(gè)16位的狀態(tài)機(jī)，邊界掃描測試的每個(gè)環(huán)節(jié)都由它來控制。
在后續(xù)的文章中還會(huì)向大家介紹邊界掃描的其它方面。
邊界掃描為開發(fā)人員縮短開發(fā)周期，并且提供良好的覆蓋率和診斷信息。在不了解IC內(nèi)部邏輯的情況下快速的開發(fā)出優(yōu)秀的測試程序。在未來的測試領(lǐng)域，邊界掃描將會(huì)得到廣泛的應(yīng)用。