Trimos TR-Scan系列非接觸表面微觀形貌(粗糙度)測(cè)量?jī)x，系統(tǒng)采用TRIMOS技術(shù)數(shù)字全息三維顯微測(cè)量技術(shù)(DHM)，廣泛應(yīng)用于高精密微觀表面檢查。與傳統(tǒng)非接觸測(cè)量技術(shù)相比，測(cè)量速度快，對(duì)震動(dòng)不敏感，真正的實(shí)現(xiàn)三維形貌納米級(jí)測(cè)量。模塊化的設(shè)計(jì)理念，可配置共焦顯微系統(tǒng), 探針測(cè)量系統(tǒng)，傳感器直接更換，方便快捷，極大的滿足了不同的應(yīng)用范圍。即可用于計(jì)量單位和材料科學(xué)研發(fā)實(shí)驗(yàn)室，也廣泛應(yīng)用在工業(yè)制造領(lǐng)域：汽車、航天、航空、表面涂層、醫(yī)療產(chǎn)品、微型電機(jī)系統(tǒng)、半導(dǎo)體等行業(yè)。

主要特點(diǎn)：
◆ 非接觸式測(cè)量原理，無損化檢測(cè)粗糙度，微觀形貌
◆ 的數(shù)字全息三維顯微技術(shù)，真正實(shí)現(xiàn)3D微觀形貌測(cè)量
◆ 創(chuàng)新的成像原理，從原理上保證了對(duì)外界振動(dòng)不敏感，Z軸分辨率高
◆ 激光找正工件并自動(dòng)定位，測(cè)量速度快 
◆ 模塊化的設(shè)計(jì)概念，多種光學(xué)光路原理，直接更換傳感器，不需要調(diào)整，方便快捷
◆ 可非標(biāo)定制相應(yīng)的測(cè)量頭，滿足不同客戶的特殊工件測(cè)量要求
◆ 即可選用數(shù)字全息技術(shù)實(shí)現(xiàn)高精密表面測(cè)量，也可選用色譜共焦技術(shù)實(shí)現(xiàn)微觀輪廓測(cè)量或選用接觸式探針實(shí) 現(xiàn)內(nèi)壁粗糙度測(cè)量
◆ 慣用了Trimos“智能用戶界面”的理念，測(cè)量過程全 自動(dòng)，操作簡(jiǎn)單
◆ 采用專業(yè)的3D形貌分析軟件，功能強(qiáng)大，即可實(shí)現(xiàn)2D輪廓測(cè)量，也可進(jìn)行3D形貌分析
◆ 可進(jìn)行編程批量檢測(cè)并自動(dòng)生成分析報(bào)告
◆ 兼容2D標(biāo)準(zhǔn)，并已內(nèi)置即將制定的3D標(biāo)準(zhǔn)

軟件特點(diǎn)：
TRIMOS NanoWare軟件，擁有國際的評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)程序來實(shí)時(shí)更新國際標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量符合以下標(biāo)準(zhǔn)：ISO (4287、4288、11562、1101、12085、13563等)，法國標(biāo)準(zhǔn)NF，制造標(biāo)準(zhǔn)CNOMO，ASME (B46.1) 和DIN標(biāo)準(zhǔn)；三維表面特征數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)ISO 25178系列同樣有效。

TRIMOS® NanoWare LT特點(diǎn)：
用于二維輪廓粗糙度測(cè)量分析的基本模塊。操作簡(jiǎn)便，包含用于表面檢查，分析形貌，粗糙度和波紋度測(cè)量的重要功能。
◆ 常用參數(shù)要求數(shù)據(jù)Ra、Rq、Rt、線性材料曲率
◆ 過濾方式、水平、放大
◆ 所有測(cè)量可復(fù)現(xiàn)三維形貌
TRIMOS® NanoWare STT：  
◆ 3軸測(cè)量基本模塊. 包含分析輪廓的所有功能及       符合ISO 25178表面分析   
◆ 3D基本參數(shù)(Sa, Sq, St, Smr, ...)   
◆ 表面圖形仿真   
◆ 距離, 高度及角度測(cè)量   
◆ 成型, 拉平, 視圖等濾波器   
◆ 最終結(jié)果管理   
◆ 測(cè)量點(diǎn)管理/再采集   
◆ 輪廓提取, 體積測(cè)量 
TRIMOS® NanoWare PRO：  
2D及3D表面特征評(píng)估最完整版本。此模塊綜合了表面測(cè)量領(lǐng)域15年以來的經(jīng)驗(yàn)。
◆ 市場(chǎng)上性能的軟件   
◆ 表面圖層研究   
◆ 3D形貌鑒定   
◆ 表面及輪廓統(tǒng)計(jì)分析及研究 

可選測(cè)頭：

應(yīng)用示例：