X光鍍層測厚儀及ROHS原素分析儀是在XRF-2020系列測厚儀的基礎上增加了元素分析及有害物質檢測的功能

X 光鍍層測厚儀及 ROHS 原素分析儀是在 XRF-2020 系列測厚儀的基礎上增加了元素分析及有害物質檢測的功能，其物點為： 高分辨率，固態(tài)探測器 ; 分析有害物質，元素分析分之 ppm - 100 ％ , 符合 RoHS / WEEE 標準測試以及 ELV 指令優(yōu)化的應用 ; 可測量多層鍍層厚度及錫鉛成分分析；電鍍溶液分析；定性分析超過 30 種元素 , 能夠測量液體，固體，粉末，薄膜和不規(guī)則形狀；貴金屬元素含量和分析（金，銀，鉑，和珠寶）；自動過濾器，多準直儀 ( 五個準直器，從 0.1mm-3.0mm) 和全自動 XYZ 移動樣品臺；性價比的元素分析及鍍層測厚雙功能分析儀器