測量PDP熒光粉在147.0nm、172nm真空紫外輻照激發(fā)下的發(fā)光光譜功率分布、譜線帶寬、峰值波長、發(fā)光亮度、色品坐標、顏色純度和主波長等參數(shù)；測量PDP熒光粉的發(fā)光余輝波形曲線、有效余輝時間，以及熒光粉在VUV輻…

功能：測量PDP熒光粉在147.0nm、172nm真空紫外輻照激發(fā)下的發(fā)光光譜功率分布、譜線帶寬、峰值波長、發(fā)光亮度、色品坐標、顏色純度和主波長等參數(shù)；測量PDP熒光粉的發(fā)光余輝波形曲線、有效余輝時間，以及熒光粉在VUV輻照下的光衰特性。
性能指標：
◆ 快速、簡便地測試PDP熒光粉的亮度、色度、余輝等光學(xué)參數(shù)
◆ 可分別測量147nm和172nm單一譜線激發(fā)下的發(fā)光性能分析PDP的放電與熒光粉匹配參數(shù)
◆ 激發(fā)光源：模擬PDP像元發(fā)光特性的真空紫外放電管
◆ 光譜范圍：350nm～800nm（或200nm～800nm）
◆ 余輝時間：0.1ms～1s
◆ 余輝分辨率：0.1ms（可擴展至1μs）