一、項(xiàng)目簡(jiǎn)介
儀器化擺錘試驗(yàn)機(jī)通常又叫擺錘示波沖擊試驗(yàn)機(jī)或數(shù)字化擺錘試驗(yàn)機(jī)，是目前擺錘試驗(yàn)機(jī)中******的一種產(chǎn)品。我單位經(jīng)過(guò)五年的努力，成功開(kāi)發(fā)出了儀器化擺錘試驗(yàn)機(jī)（數(shù)字化沖擊試驗(yàn)機(jī)），我單位開(kāi)發(fā)的儀器化擺錘試驗(yàn)機(jī)沖擊能量測(cè)控系統(tǒng)采用***的虛擬儀器技術(shù)設(shè)計(jì)，功能完善、操作方便、測(cè)試精度高，是一套可以替代進(jìn)口的系統(tǒng)。通過(guò)測(cè)試沖擊力值、采集與分析沖擊過(guò)程數(shù)據(jù)、繪制能量變化曲線，給出材料斷裂不同階段明確物理學(xué)意義與解釋，為研究、分析材料斷裂過(guò)程的行為，提供詳細(xì)準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。
二、使用領(lǐng)域
廣泛應(yīng)用于機(jī)械冶金，航空航天，大專院校、科研院所、核電等各領(lǐng)域用于測(cè)量金屬材料的沖擊韌性值和金屬材料在動(dòng)負(fù)荷下的抗沖擊能力。
三、依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)
ISO14556:2000《Steel-Charpy V-notch pendulum impact test-Instrumented test method》；GB/T19748-2005《鋼材夏比V型缺口擺錘沖擊試驗(yàn)儀器化試驗(yàn)方法》；
GB/T3808-2002《擺錘式?jīng)_擊試驗(yàn)機(jī)的檢驗(yàn)》；
GB/T229-2007《金屬夏比缺口沖擊試驗(yàn)方法》；
GB/T18658《擺錘式?jīng)_擊試驗(yàn)機(jī)用夏比V型缺口標(biāo)準(zhǔn)試樣》；
ASTME23
四、方案特點(diǎn)描述
該設(shè)備可完成以下功能：揚(yáng)擺；放擺；沖擊；
擺錘電磁離合器制動(dòng)；
沖擊后自動(dòng)掛擺；擺動(dòng)揚(yáng)擺；
空打標(biāo)定；周期檢測(cè)；無(wú)效試驗(yàn)判別；
報(bào)告自動(dòng)生成；
簡(jiǎn)單數(shù)據(jù)庫(kù)；揚(yáng)角測(cè)試；能量損耗測(cè)試；
數(shù)據(jù)、曲線的保存和再現(xiàn)、打印，波形光標(biāo)讀數(shù)；
測(cè)試數(shù)據(jù)包括：沖擊速度，沖擊時(shí)間，沖擊能量，吸收能量，位移，信號(hào)上升時(shí)間，裂紋形成能量，裂紋擴(kuò)展能量，屈服力、***大力、不穩(wěn)定裂紋擴(kuò)展起始力、不穩(wěn)定擴(kuò)展終止力四個(gè)關(guān)鍵點(diǎn)以及對(duì)應(yīng)的時(shí)間、位移、能量等24個(gè)數(shù)據(jù)；
測(cè)試曲線包括：載荷－時(shí)間；載荷－位移；能量－時(shí)間；能量－位移；位移－時(shí)間五種。
JB-W500L儀器化沖擊試驗(yàn)機(jī)技術(shù)指標(biāo)
1. 沖擊能量： 500J
2. 擺錘力矩 267.9492NM 401.9238NM
3. 標(biāo)度盤(pán)刻度范圍： 0～500J
4. 沖擊刀刃圓弧半徑： 2～2.5mm；
5. 擺錘中心至沖擊點(diǎn)(試驗(yàn)中心)距離: 800 mm
6. 擺錘預(yù)揚(yáng)角: 150°
7. 沖擊速度: 5.4~5.5 m/S
8. 試樣支座跨距: 40 mm
9. 試樣支座端部圓弧半徑: 1-1.5 mm
10. 試樣支座支撐面傾角: 0°
11. 沖擊刀圓弧半徑: 2-2.5 mm
12. 沖擊刀兩斜面夾角: 30°
13. 沖擊刀刃厚度: 16 mm
14. 試樣規(guī)格: 10×10×55 mm、10×7.5×55 mm 10×5×55 mm
15．計(jì)算機(jī)顯示***小分辨值 0.1J
16.試驗(yàn)機(jī)重量: 約1500KG
17.試驗(yàn)機(jī)外形尺寸: 2300*600*1400 mm
18.電源: 三相四線制50HZ、380V、550W(主電機(jī))
19.載荷傳感器：量程50kN，精度優(yōu)于1%；
20.沖擊力傳感器：精度優(yōu)于1%；
21.角度分辨率： 0.025°
22. 沖擊力傳感器響應(yīng)頻率：≥100KHz
23、誤差：±10%Ak(標(biāo)準(zhǔn)能量值，Ak ≥40J)
23.數(shù)據(jù)采集卡：國(guó)外進(jìn)口的高性能數(shù)據(jù)采集卡，采樣率≥1．25M，優(yōu)于1MHz
