普通型半導體檢測儀是檢測雙極型晶體管的基區(qū)寬度，半導體晶片的直徑、平整度、光潔度、表面污染、傷痕等，刻蝕圖形的線條長、寬、直徑間距、套刻精度、分辨率以及陡直、平滑的儀器。還可以廣泛應用于電子、化工和儀器儀表行業(yè)觀察不透明的物質。如金屬陶瓷、集成電路、電子芯片、印刷電路板、液晶板、纖維、鍍涂層以及其它非金屬材料等，對一些表面狀況進行研究分析等工作。廣泛應用在工廠、實驗室和教學及科研等領域。

　　配置大視野目鏡和長距平場消色差物鏡(無蓋玻片)，視場大而清晰。粗微動同軸調焦機構，粗動松緊可調，帶限位鎖緊裝置，微動格值:2μm。6V/20W鹵素燈,亮度可調。三目鏡筒,可自由切換正常觀察與偏光觀察，可進行99%透光攝影。不僅可以在目鏡上作顯微觀察，還能在計算機(數(shù)碼相機)顯示屏幕上觀察實時動態(tài)圖像，并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印

1.目鏡

2.物鏡

3.放大倍數(shù)：光學50X  100X   400X  600X   
 4.落射照明器：6V/20W鹵素燈，220V（50Hz）亮度可調
 5.濾色片組：轉盤式、黃色、藍色、綠色、磨砂玻璃
 6.偏光裝置：可插入式起偏振片和三目頭內置檢偏振片
 7.載物臺移動范圍：縱向50mm；橫向75mm
 8.調焦系統(tǒng)：帶限位和調節(jié)松緊裝置的同軸粗微動，微動格值  0.002mm
 9.瞳距調節(jié)范圍：53-75mm
 10.防霉：的防霉系統(tǒng)

(TBM-300):1.顯微鏡　2.適配鏡　3.攝像器(CCD)　4.A/D(圖像采集)

TBM-300型： 503500倍

1.目鏡:16X 10X分劃　　　2.物鏡:50X  60X  100X(干)　　　3.二維測量軟件