檢測分析測試測定測量化驗元素化學成分儀器
儀器資料：
手持式儀器資料：
Delta標準型DS2000合金分析儀元素分析范圍
可分析從從12號元素Mg到94號元素PU之間的所有合金。
(標準型)合金分析儀器Innov-X Delta DS2000的分析模式與元素種類 |
分析模式 | 分析元素 |
元素分析范圍 | 分析范圍：從12號元素Mg鎂到94號元素PU范圍內的31種基本元素，在以上范圍內，可以根據客戶需要更換其他元素。 |
Alloy Beam1模式 | , V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb等21元素。 |
Alloy Beam2模式 | , V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb PLUS Mg, Al, Si, P等25元素 |
合金分析儀技術規(guī)格
項目 | （標準型）合金分析儀Innov-X Delta |
尺寸與重量 | 外形尺寸：245x250x88mm；重量<1.5KG |
環(huán)境要求 | 環(huán)境濕度0~95%；環(huán)境工作溫度-20℃ ~50℃；亮黃 黑色、銀白色相間 |
激發(fā)源 | 大功率微型直板電子X射線管，內置15kV~40kV多段可選擇的電壓；無壓電纜、無射頻噪聲、更好的X射線屏蔽、更好的散熱。 |
射線管靶材 | Au、Ag靶 |
X射線探測器 | 標準型SDD硅漂移探測器 |
冷卻系統(tǒng) | 采用了Peltier恒溫冷卻系統(tǒng)，控測器在-35℃下工作，保證儀器的檢測精度，和不受外界溫度的影響 |
濾波器 | 八個濾光片可自動切換 |
電壓、電流 | 電壓15~40kv,電流200ua |
光譜束 | 兩個光束段，不同的元素采用不同的電壓與電流，產生好的分析效果 |
主機供電系統(tǒng) | 2個鋰電池,110v/220通用充電器, 充電器適配器，智能接駁座 |
智能接駁座 | 可對額外電池充電、儀器內置電池同時充電并顯示充電進度，接駁座能連接電腦交換數(shù)據，可讓儀器即時標準化，儀器隨時待命狀態(tài) |
開機換電 | 儀器即使在開機狀態(tài)下也可更換電池而并不需要關機，時間可達30秒 |
標準化 | 儀器開機并不需要標準化，可以直接測試，標準化僅僅是可選項 |
平衡性 | 儀器具有很好的平衡性，在測試時能立于工作臺上，無需手扶，一鍵式按鈕設計，即使長時間操作也無疲勞感 |
散熱性 | 超過1/3的機體采用鋁合金外殼設計，儀器頂部有的槽式散熱裝置，整個體系使散熱非常有效，延長機器壽命, X射線分析儀工作更加更穩(wěn)定，從而故障率極低 |
顯示器 | 整機一體化設計，工業(yè)級分辨率TFT QVGA卡西歐 BlanView® 觸摸顯示彩屏，帶LED背光；像素240×320 |
顯示器固定方式 | 一體機設計,整機連體構造，PDA不可拆卸,可防塵,防霧,防水,故障低 |
數(shù)據顯示 | 百分比（%）顯示元素含量，元素顯示順序可按能量、濃度值、用戶自定義等方式排序,可統(tǒng)計多次測試的平均值,可接臺式電腦顯示;儀器在測試過程中同步動態(tài)顯示化學成份 |
數(shù)據存儲 | ROM128M、RAM128M、2G SD卡，可存儲205000組數(shù)據與光譜 |
數(shù)據傳輸 | USB電纜、無線藍牙進行數(shù)據傳輸，文件可采用TXT,EXCEL格式輸出。 |
處理器CPU | 532MHz CPU 、Freescal，ARM1136-MX31處理器，浮點運算方式，速度大幅提 |
系統(tǒng)CPU外設 | 采用USB總線, I2C,GPIO, 藍牙, 加速器，實時的時鐘芯片，微型SD 存儲卡 (可存儲2GB 數(shù)據)，GPIO 條帶連接到扳機和PSM |
操作系統(tǒng) | 用戶化 windows CE 6.0系統(tǒng) |
Alloy Beam1模式 | , V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb等21元素 |
Alloy Beam2模式 | , V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb PLUS Mg, Al, Si, P等25元素 |
合金建模方式 | 基本參數(shù)法，儀器在分析合金前不需要預先知道合金種類，實現(xiàn)全自動分析 |
合金種類 | 鐵合金系列、鎳基合金系列、鈷基合金系列、鈦基合金系列、銅基系列、6. 溫合金、鉬鎢合金、鋁合金、混雜合金系列 |
合號 | 內置合號351種，用戶可自定義300種合號，能同時分析的合金651種，能分析的合金達萬種， |
小樣品測試 | 不規(guī)則或小型樣品的補償性測試方法能檢測很小或很少的樣品,如直徑為0.04mm的細絲也能立即辨認 |
鋁合金 | 能測試Mg, Al, Si, P等元素,能識別全系列的39種鋁合號 |
Innov-X售后服務
深圳市客戶服務中心，作為的Innov-X中國服務中心，負責整個中國市場的銷售與技術服務。為中國地區(qū)的客戶提供儀器安裝、軟件調試、使用培訓、儀器校驗、硬件維修與維護等售后
．質量保證：
公司保證向客戶提供，美國Innov-X公司*儀器，使用上等的材料和頭等工藝制成，全新，進口，未曾使用，并*符合本合同規(guī)定的質量。貨品質量保證期為十二個月.
．技術培圳：
如何使用正確的XRF方法進行合金及牌檢測
Innov-X Delta DS2000的操作方法
Innov-X Delta DS2000的保養(yǎng)方法
．售后服務：
美國（Innov-X System）公司為其范圍內的伊諾斯產品提供售后服務。中國區(qū)域內的伊諾斯用戶由深圳市售后服務中心 Innov-X中國服務中心負責產品的終身維護。美國伊諾斯（Innov-X System）公司為其范圍內的伊諾斯產品主機提供壹年的保修期，為X射線管（X-tube），探測器(Dector)提供2000小時或壹年的保修期，為PDA提供壹年的保修期。附件鋰電池，電源供應器，充電器, 數(shù)據傳輸座不在保修范圍內。
、下述物理性損壞不保修。
A：儀器承受很大的沖擊力導致機器內部的沖擊傳感器由白色變成紅色。
B：detector破損。
C：PDA破損。
D：儀器外殼破損。
E：附件
F：部件丟失。
G：儀器進異物。
ICP電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（標準機）
產品簡介
ICP-型電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀是經多年技術積累而開發(fā)的電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀，用于測定各種物質（可溶解于鹽酸、硝酸等）中的微量、痕量金屬元素或非金屬元素的含量，自動化程度、操作簡便、穩(wěn)定可靠。目前儀器廣泛應用于稀土、地質、冶金、化工、環(huán)保、臨床醫(yī)藥、石油制品、半導體、食品、生物樣品、刑事科學、農業(yè)研究等各個領域。
工作環(huán)境
內容 適應范圍
貯存運輸溫度 15℃-25℃
貯存運輸相對濕度 ≤70％
大氣壓 86-106 kPa
電源適應能力 220±10v 50-60MHz
工作濕度 ≤70％
工作溫度 15℃-30℃
技術指標
固態(tài)電源技術指標
電路類型：電感反饋式自激振蕩電路，同軸電纜輸出，匹配調諧，功率反饋閉環(huán)自動控制
工作頻率：40.68MHz±0.05％
頻率穩(wěn)定性：＜0.1%
輸出功率：800W—1200W
輸出功率穩(wěn)定性：＜0.3%
電磁場泄漏輻射強度：距機箱30cm處電場強度E：＜2V/m
進樣系統(tǒng)技術指標
輸出工作線圈內徑25mm
矩管，三同心型，外徑20mm的石英矩管
同軸型噴霧器外徑6mm
雙筒形霧室外徑34mm
氬氣流量計規(guī)格和載氣壓力表規(guī)格
1.等離子氣流量計（100-1000）L/h (1.6-16L/min)
2.輔助氣流量計（10-100）L/h (0.16-1.66L/min)
3.載氣流量計（10-100）L/h (0.16-1.66L/min)
4.載氣穩(wěn)壓閥（0-0.4MPa）
5.冷卻循環(huán)水：水溫20-25℃ 流量>5L/min 水壓>0.1MPa
單色器技術指標
光路：Czerny-Turner
焦距：1000mm
光柵規(guī)格：離子刻蝕全息光柵，刻線密度3600線/mm(可選用刻線密度2400線/mm)
線色散率倒數(shù)：0.26nm/mm
分辨率：≤0.007nm(3600刻線）. ≤0.015nm(2400刻線）
掃描波長范圍：3600線/mm掃描波長范圍：190—500nm; 2400線/mm掃描波長范圍：190—800nm
步進電機驅動小步距:0.0006 nm
出射狹縫：12μm入射狹縫：10μm
光電轉換器技術指標
光電倍增管規(guī)格：R293或R928
光電倍增管負壓：0-1000V穩(wěn)定性＜0.05%
整機技術指標
掃描波長范圍：195nm～500nm（3600L/mm光柵）195nm～800nm（2400L/mm 光柵）
重復性：（即短期穩(wěn)定度）相對標準偏差RSD≤1.5％
穩(wěn)定性：相對標準偏差RSD≤2％
檢出限（μg/L）：
元素 | 波長 | 檢出限 |
| 元素 | 波長 | 檢出限 |
La | 408.672 | <3.0 |
| Cr | 267.716 | <5.0 |
Ce | 413.765 | <5.0 |
| Al | 396.152 | <5.0 |
Pr | 414.311 | <5.0 |
| Zr | 343.823 | <5.0 |
Nd | 401.225 | <5.0 |
| Ag | 328.068 | <3.0 |
Sm | 360.946 | <10.0 |
| Sr | 407.771 | <1.0 |
Eu | 381.967 | <1.0 |
| Au | 242.795 | <5.0 |
Gd | 342.247 | <10.0 |
| Pt | 265.945 | <5.0 |
Tb | 350.917 | <3.0 |
| Pd | 340.458 | <5.0 |
Dy | 353.170 | <3.0 |
| Ir | 224.268 | <10.0 |
Ho | 345.600 | <3.0 |
| Rh | 343.489 | <10.0 |
Er | 337.271 | <3.0 |
| Ru | 240.272 | <5.0 |
Tm | 313.126 | <3.0 |
|
| 455.403 | <1.0 |
Yb | 369.419 | <1.0 |
| As | 228.812 | ≤15 |
Lu | 261.541 | <3.0 |
| Sb | 206.833 | ≤15 |
Y | 371.030 | <1.0 |
| Bi | 223.061 | ≤10 |
Sc | 335.373 | <1.0 |
| Hg | 253.652 | ≤15 |
Ta | 226.230 | <5.0 |
| Pb | 220.353 | ≤15 |
Nb | 313.340 | <5.0 |
| Ga | 294.364 | ≤10 |
Mn | 257.610 | <3.0 |
| Se | 203.985 | ≤10 |
Mg | 279.553 | <1.0 |
| Sn | 242.949 | ≤20 |
B | 249.773 | <10.0 |
| Te | 214.281 | ≤10 |
Zn | 213.856 | <3.0 |
| Ta | 226.230 | ≤5.0 |
Co | 228.616 | <3.0 |
| Th | 283.730 | ≤10 |
Si | 251.611 | <10.0 |
| Tl | 276.787 | ≤30 |
Ni | 232.003 | <5.0 |
| Re | 227.525 | ≤5 |
Cd | 226.502 | <3.0 |
| Ge | 209.426 | ≤15 |
Fe | 239.562 | <3.0 |
| Os | 225.585 | ≤1 |
Ca | 393.366 | <1.0 |
| W | 207.911 | ≤10 |
Mo | 281.615 | <5.0 |
| Se | 203.985 | ≤30 |
V | 310.230 | <5.0 |
| Li | 670.784 | ≤3 |
Be | 313.041 | <1.0 |
| Na | 588.995 | ≤20 |
| 334.941 | <3.0 |
| K | 766.490 | ≤60 |
Cu | 324.754 | <3.0 |
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檢測分析測試測定測量化驗元素化學成分儀器
