日立紫外/可見/近紅外分光光度計UH-4150

技術特點；

（1） 切換檢測器波長時會產生小的信號差異,即使這樣UH4150也可實現(xiàn)高精度的測定。 由于使用日立專業(yè)的積分球結構技術和信號處理技術等，將檢測器切換時（信號水平的差異）吸光度值的變化降到最小。

（2） 日立高性能的棱鏡-光柵雙單色器系統(tǒng)可實現(xiàn)低雜散光和低偏振。

棱鏡-光柵（P-G）系統(tǒng)與常見的光柵-光柵（G-G）系統(tǒng)相比,S和P偏振光強度沒有大的改變。即使對于低透過率和反射率的樣品，UH4150也可實現(xiàn)低噪音測定。

（3） 平行光束可實現(xiàn)反射光和散射光的精確測定。

平行光束，相對于樣品入射角始終相同，實現(xiàn)了高精度鏡面反射率的測定。此外，平行光束可用于擴散率（霧度）的評價和透鏡透過率的測定。

（4） 可提供適合不同測定目的的多種檢測器。

可使用八種不同材料、尺寸和形狀的積分球

（5） 采用全新人體工學設計。

改進樣品室門，提升操作性。為了便于更換樣品和附件的操作，采用了符合人體工學的設計。 （6） 兼容多種U-4100附件。

通用附件適用于兩種型號。U-4100型附件也可用在UH4150型由于附件可拆卸，適合更多的測定類型。

（7） 比U-4100型更高的樣品通量。

UH4150型可在1,200 nm/min的掃描速度下以1 nm的間隔進行測定，顯著縮短測定時間。

應用領域：

液體、渾濁液體、固體均可適用?？蓪崿F(xiàn)包括粉末、玻璃、光學薄膜、膠片材料、透鏡、棱鏡、單晶片、液體電路板等各種光學、電子設備材料的吸收/透過率/反射率的無損測試。廣泛應用于半導體、光學元件、光電設備、新型材料的光譜性能研究，獲取樣品的吸收、全透射、正透射、漫透射、全反射、正反射、漫反射等光譜數據。