雙襯度成像技術(shù)

雙襯度成像技術(shù)解決了成分吸收系數(shù)相近導(dǎo)致成像不清的痛點，該技術(shù)在吸收襯度成像方式之外，還可以利用穿過物體的X射線束相位改變的信息產(chǎn)生圖像,即相位襯度成像，有效識別出那些單一掃播無法識別的結(jié)構(gòu)。

射線源免維護

XLAB-1000所使用射線源采用的一體化設(shè)計，在保證性能穩(wěn)定的同時使用簡單，無需耗材,免于維護，很大程度上減輕了使用成本。

極小的像素尺寸  

對于同一視野而言，像素尺寸越小,空間分辨率越好。XLAB-1000的探測器像素尺寸僅6.5um,保證了高精度的成像。

多場景原位拓展  

設(shè)備采用模塊化設(shè)計，預(yù)留足夠的腔體空間，可與微曠自研的多場景原位拓展技術(shù)體系搭配使用，輕松升級為4DCT，獲取在高溫、拉壓、應(yīng)力腐蝕、熱壓燒結(jié)等近服役工況下樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)動態(tài)演化過程。

強大的軟件系統(tǒng)(X-VISON）

高精度科研級CT技術(shù)參數(shù)：