白光共聚焦顯微鏡結(jié)合了高分辨率三維立體成像顯微鏡和光學顯微鏡兩者的優(yōu)點。它為您提供在微米尺度定量研究材料表面形貌的全新可能性。

儀器簡介：
 

　　白光共聚焦顯微鏡結(jié)合了高分辨率三維立體成像顯微鏡和光學顯微鏡兩者的優(yōu)點。它為您提供在微米尺度定量研究材料表面形貌的全新可能性。
 

　　瑞士CSM儀器公司三十年來致力于為材料、物理、機械工作者提供先進、精準、全面的材料機械性質(zhì)測試儀器、分析咨詢以及測試服務(wù)。我們的主要產(chǎn)品包括：
 

　　測量材料硬度和彈性模量的納米級、微米級儀器化壓入測試儀(納米壓痕儀, 顯微壓痕儀)；
 

　　界定膜基結(jié)合強度、薄膜抗劃擦能力的納米級、微米級、大載荷劃痕測試儀 (Scratch tester) ；
 

　　包括真空、高溫以及線性往復(fù)運動等選項的摩擦磨損測試儀、納米摩擦儀 (摩擦磨損試驗機 ；
 

　　簡便易用的膜厚測試儀；
 

　　用于三維成像表征材料表面形貌的原子力顯微鏡 (AFM) 和白光共聚焦顯微鏡 (Confocal Microscope)
 

　　主要特點：
 

　　可與CSM各種微米尺度測量模塊結(jié)合使用，以分析微米級劃痕和微米級壓痕的三維表面形貌
 

　　非接觸式測量，*無損測量
 

　　XY大范圍掃描(使用CSM標準操作平臺)
 

　　Z方向?qū)拻呙璺秶?(范圍 大至400 微米)
 

　　精確的二維輪廓，三維成像和表面粗糙度測量
 

　　可以在透明的材料表面進行成像
 

　　粗糙或光滑表面成像
 

　　Z方向掃描范圍的可有多種選擇