“原子力顯微鏡技術(shù)新進(jìn)展研討會”南京大學(xué)站
1986年成立至今，原子力顯微鏡技術(shù)已經(jīng)過30年的發(fā)展。30年間，AFM的功能也從初的表面形貌測量發(fā)展成功能全面的材料物性測試工具。隨著技術(shù)的進(jìn)步，如今第三代原子力顯微鏡能夠?qū)崿F(xiàn)高分辨率成像，快速掃描的能力，并且更易操作。
牛津儀器原子力顯微鏡將在南京大學(xué)和四川大學(xué)分別舉行“原子力顯微鏡技術(shù)新進(jìn)展研討會”。兩場研討會將分別就AFM技術(shù)進(jìn)展和納米電學(xué)性能表征測試等議題進(jìn)行分享，我們還為大家現(xiàn)場演示超高分辨率，具有快速掃描能力的CypherS型AFM。歡迎大家參加！
“原子力顯微鏡技術(shù)新進(jìn)展研討會”南京大學(xué)站
時間：2016年11月22日
地點：南京大學(xué)仙林校區(qū)（仙林大道163號南京大學(xué)電子科學(xué)與工程系）
| 時間 | 安排 | 報告人 |
| 8：30-9：00 | 注冊 | |
| 9：00-9：30 | AFM技術(shù)進(jìn)展介紹 | 劉長隆 |
| 9：40-10：15 | 二維有機半導(dǎo)體及其異質(zhì)結(jié)的研究 | 張宇涵博士 |
| 10：15-10：30 | 茶歇 | |
| 10：30-11：00 | AFM表征鐵電隧道結(jié)研究 | 李晨博士 |
| 11：00-11：30 | 納米電學(xué)性能表征測試 | Dr. Jonathan MOFFAT |
| 11：30-11：45 | AFM功能探針介紹 | 劉碩 |
| 13：30-15：15 | AFM高分辨成像模式展示 | AR |
| 15：30-17：00 | AFM功能模式展示（PFM\SKPM） | AR |
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