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名  稱：透光率測(cè)試儀

型  號(hào)：X3PCST

產(chǎn)  地：上海

X3PCST透光率測(cè)試儀儀器用途：

X3PCST透光率測(cè)試儀（薄膜固體測(cè)試儀）是專為薄膜、玻璃、珠寶、紡織、手機(jī)屏、液晶顯示屏等制造行業(yè)設(shè)計(jì)的光譜測(cè)試儀。該儀器可以對(duì)手機(jī)屏、液晶顯示屏進(jìn)行定波長測(cè)試和光譜掃描，是質(zhì)量監(jiān)測(cè)不可少的檢測(cè)工具。

測(cè)試固體樣品、規(guī)格最小φ1.0mm -500*500mm  厚度：0.01-100mm固體、護(hù)目鏡、薄膜、啤酒瓶、建筑玻璃、觸屏行業(yè)、紡織、珠寶鑒定、真空鍍膜等、單層、多層窗玻璃構(gòu)件，光學(xué)性能的測(cè)定等。

優(yōu)勢(shì)：固體、薄膜、玻璃或者亞克力等特薄、特厚、特大的樣品直接平放測(cè)試，方便快捷、測(cè)試數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。

X3PCST透光率測(cè)試儀儀器產(chǎn)品特點(diǎn)：

1、寬大的樣品臺(tái)，樣品直接擺放在測(cè)試臺(tái)上，任何薄膜夾具都不要， 方便快捷。

2、 設(shè)計(jì)*的光學(xué)系統(tǒng)、高性能全息光柵和接收器確保儀器具有優(yōu)良的性能指標(biāo)。 
3、采用單機(jī)操作，線性回歸方程測(cè)量等。
4、應(yīng)用新的微機(jī)處理技術(shù)使操作更為方便 。
5、波長，調(diào)零全自動(dòng)，波長最小間隔0.1nm 。
6、配套專業(yè)檢測(cè)軟件，透射測(cè)量覆蓋所有功能，光譜掃描、時(shí)間掃描、DNA專用測(cè)試、多波長測(cè)試、標(biāo)準(zhǔn)曲線測(cè)試等，并且使數(shù)據(jù)儲(chǔ)存達(dá)到無限。

X3PCST透光率測(cè)試儀儀器主要技術(shù)指標(biāo)

1、波長范圍： 325~1100 nm
2、波長精度： ±0.3nm
3、波長重復(fù)性： ≤0.3 nm
4、光譜帶寬： 0.5、1、2、4nm

5、測(cè)量范圍： 0-125%T, -0.097-2.700A, 0-1999C
6、透射比準(zhǔn)確度： ±0.3%T
7、透射比重復(fù)性： ≤0.2%T
8、雜散光： ≤0.02%T(340、420nm)
9、基線直線性：±0.002A
10、樣品規(guī)格：最小φ1.0mm-500*500mm， 厚度：0.01-100mm最大可測(cè)片： 500mm x500mm